Pat
J-GLOBAL ID：200903043455894715
テラヘルツ波分光器
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999163974
Publication number (International publication number)：2000352558
Application date： Jun. 10, 1999
Publication date： Dec. 19, 2000
Summary：
【要約】【課題】 装置構成が簡単化及び小型化された、EO結晶を用いた発生器及び検出器を有するテラヘルツ波分光器を提供する。【解決手段】 励起光をEO結晶であるZnTe結晶10のテラヘルツ波発生部Aに入射してテラヘルツ波を発生させ、軸外し放物面鏡12を介して光路l1によってサンプル30を透過した後、全反射鏡14で反射され再びサンプル30を透過して軸外し放物面鏡12を介して光路l2によって同一のZnTe結晶10のテラヘルツ波検出部Bに入射させて、このテラヘルツ波をプローブ光によって検出する。このような構成とすることによって、単一のZnTe結晶10によってテラヘルツ波発生器及び検出器を、発生部A及び検出部Bとして同時に両立させることができ、その装置構成が大幅に簡単化・小型化される。
Claim (excerpt)：
励起光によってテラヘルツ波を発生させるテラヘルツ波発生器と、プローブ光によってテラヘルツ波を検出するテラヘルツ波検出器と、を備え、分光測定を行うテラヘルツ波分光器であって、前記テラヘルツ波発生器及び前記テラヘルツ波検出器は、単一の電気光学結晶を共に用いて前記テラヘルツ波の発生及び検出をそれぞれ行うとともに、前記テラヘルツ波発生器から出射されるテラヘルツ波の出射光学系と、前記テラヘルツ波検出器に入射されるテラヘルツ波の入射光学系とは、その光学系の一部または全部を共有して構成されていることを特徴とするテラヘルツ波分光器。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (8)：
2G020AA03
, 2G020CA03
, 2G020CB04
, 2G020CB23
, 2G020CB42
, 2G020CC29
, 2G020CC47
, 2G020CD15
Cited by examiner (3)
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電気光学プローブ
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-242132
Applicant：アメリカンテレフォンアンドテレグラフカムパニー
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検査対象物の組成画像をリアルタイムで提供する方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-057176
Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
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自由空間の電磁放射を特徴づけるための電気光学及び磁気光学感知装置及び方法
Gazette classification：公表公報
Application number：特願平9-542939
Applicant：レンセレーポリテクニクインスティテュート
Article cited by the Patent：
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