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J-GLOBAL ID：200903001702627860
導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
,
Agent (2)：
塩澤 寿夫 (外1名)
, 塩澤 寿夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998018479
Publication number (International publication number)：1999213763
Application date： Jan. 30, 1998
Publication date： Aug. 06, 1999
Summary：
【要約】【課題】 一般式Znx M y Inz O (x+3y/2+3z/2) で示される酸化物からなる導電性酸化物薄膜を配向性制御基板上または基板上の配向性制御膜上に有する物品であって、ZnO に代わる入手または生産が容易な配向性制御基板または配向性制御膜を用いて、より大面積とすることが可能な物品を提供すること。【解決手段】 一般式Znx M y Inz O (x+3y/2+3z/2)-d (式中、MはAl及び/又はGaであり、比率(x:y)が0.2〜8:1であり、比率(z:y)が0.4〜1.4:1であり、かつ酸素欠損量dが0を超え、(x+3y/2+3z/2)の1×10-1倍の範囲である)で表される導電性酸化物薄膜を、c 軸が基板の膜形成面に垂直に配向しているAl2O3 単結晶からなる配向性制御基板上または基板上の配向性制御膜上に有する物品。前記導電性酸化物薄膜は、上記酸化物の(00n)面が実質的に配向するように形成されている。
Claim (excerpt)：
基板の少なくとも一方の面の少なくとも一部に導電性酸化物薄膜を有する物品であって、前記導電性酸化物薄膜は、一般式Znx M y Inz O (x+3y/2+3z/2)-d (式中、Mはアルミニウム及びガリウムのうちの少なくとも一つの元素であり、比率(x:y)が0.2〜8:1の範囲であり、比率(z:y)が0.4〜1.4:1の範囲であり、かつ酸素欠損量dが0を超え、(x+3y/2+3z/2)の1×10-1倍の範囲である)で表される酸化物からなり、前記導電性酸化物薄膜は、配向性制御基板上または基板上の配向性制御膜上に、上記酸化物の(00n)面(但し、nは正の整数である)が実質的に配向するように形成されたものであり、さらに前記配向性制御基板及び前記配向性制御膜は、Al2O3 単結晶からなり、かつこの単結晶のc 軸は基板の膜形成面に垂直に配向していることを特徴とする物品。
IPC (6)：
H01B 5/14
, C23C 14/08
, G09F 9/30 337
, H01B 13/00 503
, H01L 31/04
, G02F 1/1343
H01B 5/14 A
, C23C 14/08 D
, G09F 9/30 337
, H01B 13/00 503 B
, G02F 1/1343
, H01L 31/04 H
Cited by examiner (2)
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導電性酸化物およびそれを用いた電極
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-065840
Applicant：ホーヤ株式会社
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透明導電膜
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-058358
Applicant：株式会社日立製作所
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