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J-GLOBAL ID:200903002011139220

半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 日向寺 雅彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007055967
Publication number (International publication number):2008218818
Application date: Mar. 06, 2007
Publication date: Sep. 18, 2008
Summary:
【課題】小型の半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置1において、単結晶シリコンからなる基板2を設け、基板2の表面の素子領域Aに素子3を形成する。素子3は、半導体装置1の本来の機能を果たす機能素子である。また、基板2上に層間絶縁膜4を形成し、層間絶縁膜4上における保護領域Bに多結晶シリコン層5を形成し、多結晶シリコン層5内に素子6を形成する。素子6は素子3を静電気から保護する静電耐圧用保護素子である。更に、層間絶縁膜4上に層間絶縁膜7を形成し、層間絶縁膜7上におけるパッド領域Cにパッド8を設ける。そして、保護領域Bは素子領域Aの直上域近傍に設け、パッド領域Cは素子領域A及び保護領域Bの直上域近傍に設ける。【選択図】図1
Claim (excerpt):
単結晶シリコンからなる基板と、 前記基板の表面の第1領域に形成された第1の素子と、 前記基板上に形成された第1の層間絶縁膜と、 前記第1の層間絶縁膜上における第2領域に形成された多結晶シリコン層と、 前記多結晶シリコン層内に形成された第2の素子と、 前記第1の層間絶縁膜上に前記多結晶シリコン層を覆うように形成された第2の層間絶縁膜と、 前記第2の層間絶縁膜上における第3領域に形成されたパッドと、 を備え、 前記第2領域は、前記第1領域の直上域の少なくとも一部を含む領域であり、前記第3領域は、前記第1領域の直上域であって前記第2領域の直上域である領域の少なくとも一部を含む領域であることを特徴とする半導体装置。
IPC (5):
H01L 21/822 ,  H01L 27/04 ,  H01L 27/06 ,  H01L 21/320 ,  H01L 23/52
FI (4):
H01L27/04 H ,  H01L27/04 A ,  H01L27/06 311B ,  H01L21/88 S
F-Term (38):
5F033HH04 ,  5F033PP09 ,  5F033PP12 ,  5F033QQ48 ,  5F033VV03 ,  5F033VV07 ,  5F033VV09 ,  5F038BE07 ,  5F038BH02 ,  5F038BH04 ,  5F038BH05 ,  5F038BH06 ,  5F038BH13 ,  5F038CA02 ,  5F038CA05 ,  5F038CA09 ,  5F038CA10 ,  5F038CA16 ,  5F038EZ06 ,  5F038EZ13 ,  5F038EZ14 ,  5F038EZ20 ,  5F048AA02 ,  5F048AC01 ,  5F048AC10 ,  5F048BA01 ,  5F048BD04 ,  5F048BF07 ,  5F048BF11 ,  5F048BF16 ,  5F048BG12 ,  5F048BH07 ,  5F048CB03 ,  5F048CB04 ,  5F048CC01 ,  5F048CC06 ,  5F048CC10 ,  5F048CC18
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (5)
  • 特開昭63-217632
  • 半導体装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-001485   Applicant:山形日本電気株式会社
  • 半導体装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-227436   Applicant:ローム株式会社
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