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J-GLOBAL ID:200903002436749170
蛍光観察又は蛍光測光システム、及び蛍光観察又は蛍光測光方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
篠原 泰司
, 藤中 雅之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006175495
Publication number (International publication number):2008003052
Application date: Jun. 26, 2006
Publication date: Jan. 10, 2008
Summary:
【課題】高精度、高品質な蛍光観察、蛍光計測、更には微弱蛍光の観察や計測が可能なカバーガラスを用いた蛍光観察システム、蛍光測光システム、蛍光観察方法、及び蛍光測光方法を提供する。【解決手段】低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式を満足する。 BCG'/BCG≦0.7 ただし、BCG'は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、BCGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。【選択図】図1
Claim (excerpt):
低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、
前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式(1-1)を満足することを特徴とする蛍光観察又は蛍光計測システム。
BCG’/BCG≦0.7 ...(1-1)
ただし、BCG’は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、BCGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。
IPC (3):
G01N 21/64
, G02B 21/00
, G02B 21/16
FI (3):
G01N21/64 E
, G02B21/00
, G02B21/16
F-Term (20):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043KA09
, 2H052AA09
, 2H052AC06
, 2H052AC14
, 2H052AC18
, 2H052AC20
, 2H052AC26
, 2H052AC34
, 2H052AD03
, 2H052AE03
, 2H052AE06
, 2H052AF02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
落射蛍光顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-126636
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
蛍光測光装置および蛍光測光方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-318745
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
光学材料の製造方法、その光学材料、及び光学部材
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-259199
Applicant:呉羽化学工業株式会社
Cited by examiner (1)
-
疾患に関連する遺伝的変更の整列に基く検出
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-506374
Applicant:ザリージェンツオブザユニバーシティオブカリフォルニア
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