Pat
J-GLOBAL ID：200903002436749170

蛍光観察又は蛍光測光システム、及び蛍光観察又は蛍光測光方法

Inventor：
木下 博章

About 木下 博章


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (2)： 篠原 泰司 ,  藤中 雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006175495
Publication number (International publication number)：2008003052
Application date： Jun. 26, 2006
Publication date： Jan. 10, 2008
Summary：
【課題】高精度、高品質な蛍光観察、蛍光計測、更には微弱蛍光の観察や計測が可能なカバーガラスを用いた蛍光観察システム、蛍光測光システム、蛍光観察方法、及び蛍光測光方法を提供する。【解決手段】低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式を満足する。 BCG'/BCG≦0.7 ただし、BCG'は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、BCGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
低蛍光なカバーガラスを用いてなる蛍光観察又は蛍光測光システムであって、 前記低蛍光なカバーガラスが次の条件式(1-1)を満足することを特徴とする蛍光観察又は蛍光計測システム。 BCG’/BCG≦0.7 ...(1-1) ただし、BCG’は前記低蛍光なカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値、BCGは従来一般的に使用されているカバーガラスの自家蛍光の強度の平均値である。
IPC (3)：
G01N 21/64 ,  G02B 21/00 ,  G02B 21/16
FI (3)：
G01N21/64 E ,  G02B21/00 ,  G02B21/16
F-Term (20)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043KA09 ,  2H052AA09 ,  2H052AC06 ,  2H052AC14 ,  2H052AC18 ,  2H052AC20 ,  2H052AC26 ,  2H052AC34 ,  2H052AD03 ,  2H052AE03 ,  2H052AE06 ,  2H052AF02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (1)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM