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J-GLOBAL ID:200903002639496005

半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉浦 正知
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996146563
Publication number (International publication number):1997307097
Application date: May. 16, 1996
Publication date: Nov. 28, 1997
Summary:
【要約】【課題】 実効的にGaN層に対して電極を低接触抵抗でオーミック接触させる。【解決手段】 GaN MESFETにおいて、チャネル層としてのn型GaN層13上にn型GaInNコンタクト層14を介してソース電極17およびドレイン電極18を設け、n型GaInNコンタクト層14にオーミック接触させる。n型GaInNコンタクト層14は、MOCVD法によりn型GaN層13上に選択成長させる。
Claim (excerpt):
GaN層と、上記GaN層上の、上記GaN層と電気的に接続された電極とを有する半導体装置において、上記GaN層と上記電極との間に、少なくともGa、InおよびNを含む半導体層が設けられ、上記半導体層に上記電極がオーミック接触していることを特徴とする半導体装置。
IPC (4):
H01L 29/43 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 21/338 ,  H01L 29/812
FI (3):
H01L 29/46 H ,  H01L 21/28 301 H ,  H01L 29/80 F
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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