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J-GLOBAL ID:200903002716504369

レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 小栗 昌平 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光 ,  高松 猛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005141633
Publication number (International publication number):2006317794
Application date: May. 13, 2005
Publication date: Nov. 24, 2006
Summary:
【課題】 IC等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基板の製造、さらにその他のフォトファブリケーション工程などに使用される感光性組成物であり、露光マージンが広く、疎密依存性が小さい優れた感光性組成物を提供する。【解決手段】 活性光線または放射線の照射によりスルホン酸基を複数有する特定の酸を発生する化合物を含有する感光性組成物。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
(A)酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、 (B)活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、 (C)一般式(I)で表される化合物、および (H)有機溶剤 を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
IPC (2):
G03F 7/004 ,  H01L 21/027
FI (2):
G03F7/004 501 ,  H01L21/30 502R
F-Term (15):
2H025AA02 ,  2H025AA03 ,  2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE07 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB08 ,  2H025CB14 ,  2H025CB41 ,  2H025CC20 ,  2H025FA12 ,  2H025FA17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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