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J-GLOBAL ID：200903002926314384

画像欠陥検出装置、画像欠陥検出方法、及び画像欠陥検出方法の手順を記憶した記憶媒体

Inventor：
長澤 俊輔

About 長澤 俊輔

, 
山縣 宏之

About 山縣 宏之

, 
出原 康徳

About 出原 康徳


Applicant, Patent owner：
シャープ株式会社

About シャープ株式会社

, 
シャープタカヤ電子工業株式会社

About シャープタカヤ電子工業株式会社


Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000107015
Publication number (International publication number)：2001264257
Application date： Apr. 07, 2000
Publication date： Sep. 26, 2001
Summary：
【要約】【課題】 検査員の熟練度や体調に関係なく、正確に欠陥を検出することができる。【解決手段】 カメラによってアナログデータとして取り出された画像のアナログデータの画像がA/D変換器によってデジタルデータに変換されると、マトリクス設定手段18によって、画像上にて、欠陥の種類に応じて異なった検査基準領域および検査対象領域がそれぞれ設定される。そして、比較値抽出手段19によって検査基準領域内および検査対象領域内におけるデジタルデータから比較値が抽出されると、比較手段20によって、その比較値と所定の閾値とに基づいて、欠陥の有無が検出される。
Claim (excerpt)：
画像をアナログデータとして取り出す画像取り出し手段と、この画像取り出し手段によって取り出されたアナログデータの画像をデジタルデータに変換するA/D変換手段と、該画像上にて、欠陥の種類に応じて異なった検査基準領域および検査対象領域をそれぞれ設定する設定手段と、この設定手段にて設定された検査基準領域内および検査対象領域内におけるデジタルデータから比較値を抽出する比較値抽出手段と、該比較値抽出手段にて抽出された比較値と所定の閾値とに基づいて、欠陥の有無を検出する比較手段と、を具備することを特徴とする画像欠陥検出装置。
IPC (4)：
G01N 21/88 ,  G01M 11/00 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/00 200
FI (4)：
G01N 21/88 J ,  G01M 11/00 T ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/00 200 Z
F-Term (45)：
2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EA19 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051ED01 ,  2G051ED13 ,  2G086EE10 ,  5B057AA01 ,  5B057BA19 ,  5B057BA29 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE16 ,  5B057DA03 ,  5B057DA15 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC36 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096DA03 ,  5L096EA45 ,  5L096FA14 ,  5L096FA17 ,  5L096GA07 ,  5L096GA17 ,  5L096GA40 ,  5L096JA11 ,  5L096LA04 ,  5L096MA00
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 色むら検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-018911   Applicant：株式会社東芝
  • 特開昭63-103952
  • 明欠陥/暗欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-280965   Applicant：東芝エンジニアリング株式会社
Cited by examiner (3)
  • 色むら検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-018911   Applicant：株式会社東芝
  • 特開昭63-103952
  • 明欠陥/暗欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-280965   Applicant：東芝エンジニアリング株式会社

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