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J-GLOBAL ID:200903003069520183

赤外線ガス分析計

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000030820
Publication number (International publication number):2001221743
Application date: Feb. 08, 2000
Publication date: Aug. 17, 2001
Summary:
【要約】【課題】 ノイズが少なく小型で、必要な光路長を確保することにより測定精度が確保された赤外線ガス分析計を提供すること。【解決手段】 被測定ガスに赤外線を照射する光源と、この光源と同一平面上に配置され、赤外線を検出する赤外線検出器と、光源と赤外線検出器に対向配置され、光源からの赤外線を集光して赤外線検出器に投影する集光投影手段と、光源と集光投影手段との間に設置され、光源からの赤外線を波長選択的に透過して集光投影手段に入射する波長選択フィルタとを具備し、赤外線検出器の出力に基づいて被測定ガスの濃度を測定することを特徴とする赤外線ガス分析計。
Claim (excerpt):
被測定ガスに赤外線を照射する光源と、この光源と同一平面上に配置され、赤外線を検出する赤外線検出器と、前記光源と前記赤外線検出器に対向配置され、前記光源からの赤外線を集光して前記赤外線検出器に投影する集光投影手段と、前記光源と前記集光投影手段との間に設置され、前記光源からの赤外線を波長選択的に透過して前記集光投影手段に入射する波長選択フィルタと、を具備し、前記赤外線検出器の出力に基づいて前記被測定ガスの濃度を測定することを特徴とする赤外線ガス分析計。
F-Term (12):
2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC04 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ14 ,  2G059KK01 ,  2G059LL03 ,  2G059LL04 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 赤外線ガス分析計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-092304   Applicant:株式会社堀場製作所
  • 赤外線ガス分析計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-354458   Applicant:株式会社堀場製作所
  • 2成分ガスアナライザー
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-237661   Applicant:株式会社島津製作所
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