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J-GLOBAL ID:200903003105500488

イオン伝導度測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 原 謙三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004145448
Publication number (International publication number):2005326311
Application date: May. 14, 2004
Publication date: Nov. 24, 2005
Summary:
【課題】 膜厚方向4端子法において、測定値安定性、再現性を向上させ、より精度の良いイオン伝導度測定方法を実現する。【解決手段】 2つの電流電極14,15間に積層配置された固体電解質膜11〜13に対し、各固体電解質膜11〜13間に電圧電極16,17を挿入し、電流電極14,15によって積層された固体電解質膜11〜13の膜厚方向に電流を供給しながら、テスト膜となる固体電解質膜12の両側に配置された電圧電極16,17間の電位差に基づいて、固体電解質膜12のイオン伝導度を測定する。この際、電圧電極16,17として、太さが1〜15μm(さらに好適には5〜10μm)である良導電性線を使用する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
2つの電流電極間に積層配置された少なくとも3枚以上の固体電解質膜に対し、各固体電解質膜間に電圧電極を挿入し、上記電流電極によって上記積層された固体電解質膜の膜厚方向に電流を供給しながら、所定の固体電解質膜の両側に配置された電圧電極間の電位差に基づいて、上記所定の固体電解質膜のイオン導電度を測定するイオン伝導度測定方法において、 上記電圧電極として被覆層を有さない良導電性線を使用し、該電圧電極の太さが1〜15μmであることを特徴とするイオン伝導度測定方法。
IPC (3):
G01N27/04 ,  H01M8/02 ,  H01M8/04
FI (3):
G01N27/04 Z ,  H01M8/02 P ,  H01M8/04 Z
F-Term (22):
2G060AA08 ,  2G060AD01 ,  2G060AF06 ,  2G060AF15 ,  2G060AG08 ,  2G060AG14 ,  2G060EB03 ,  2G060HC08 ,  2G060HC21 ,  2G060KA09 ,  5H026AA06 ,  5H026CX02 ,  5H026CX05 ,  5H026EE02 ,  5H026HH01 ,  5H026HH08 ,  5H026HH09 ,  5H027AA06 ,  5H027KK41 ,  5H027KK54 ,  5H027KK56 ,  5H027MM26
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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