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J-GLOBAL ID:200903003566514421
熱脱離用サンプリングチューブの完全性を検証するための方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
志賀 正武
, 渡邊 隆
, 村山 靖彦
, 実広 信哉
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006514970
Publication number (International publication number):2006526154
Application date: May. 24, 2004
Publication date: Nov. 16, 2006
Summary:
本発明は、サンプル内の分析対象物を分析機器に対して移送するための方法に関するものであって、この方法においては、吸着性材料を収容している第1容器内へと第1所定量の標準材料を導入し;そしてその次に、第1容器内へと所定量のサンプルを導入し;さらにその後に、サンプル内の分析対象物および標準材料内の化合物を、分析機器に対して移送する。
Claim (excerpt):
サンプル内の分析対象物を分析機器に対して移送するための方法であって、
吸着性材料を収容している第1容器内へと第1所定量の標準材料を導入し;
その次に、前記第1容器内へと所定量のサンプルを導入し;
さらにその後、前記サンプル内の分析対象物および前記標準材料内の化合物を、分析機器に対して移送する;
ことを特徴とする方法。
IPC (3):
G01N 1/00
, G01N 1/22
, G01N 27/62
FI (4):
G01N1/00 101R
, G01N1/22 L
, G01N27/62 V
, G01N27/62 D
F-Term (18):
2G041CA01
, 2G041EA05
, 2G041EA12
, 2G041FA08
, 2G052AA39
, 2G052AD22
, 2G052AD42
, 2G052CA03
, 2G052CA04
, 2G052CA11
, 2G052CA35
, 2G052CA38
, 2G052ED07
, 2G052ED09
, 2G052GA24
, 2G052GA27
, 2G052HA18
, 2G052JA09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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米国特許予備出願シリアル番号第60/472,854号明細書
Cited by examiner (5)
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特開平2-301952
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特開平2-301952
-
特開平2-301952
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排ガス測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-387309
Applicant:株式会社日立製作所
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校正用ガス調製装置及びガス分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-220329
Applicant:電気化学計器株式会社
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Article cited by the Patent:
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