Pat
J-GLOBAL ID:200903003974346308
顕微鏡
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (8):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004282627
Publication number (International publication number):2006098549
Application date: Sep. 28, 2004
Publication date: Apr. 13, 2006
Summary:
【課題】 簡単な構成で防塵性を高めることができ、しかも光学的影響を受けることなくメンテナンス作業性改善を可能にした顕微鏡を提供する。【解決手段】 ステージ3に載置した標本2を観察する対物レンズ26を有するとともに、ランプ701からの光を対物レンズ26に向け反射し、対物レンズ26を介して与えられる標本2からの光を透過するような特性を有するハーフミラー17を配置し、このハーフミラー17の少なくとも上方面を覆うような防塵ガラス19を有する防塵ガラスユニット18を着脱可能に設け、ハーフミラー17を透過した光を標本像として接眼レンズ32で観察する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
標本を載置するステージと、
光源と、
前記ステージに載置された標本を観察する対物レンズと、
前記光源からの光を前記対物レンズに向け反射し、前記対物レンズを介して得られる前記標本からの光を透過するような特性を有する光路分割手段と、
前記光路分割手段の少なくとも上方面を覆うような透明部材を有する防塵手段と、
前記光路分割手段を透過した光を標本像として観察する観察手段と、
を具備したことを特徴とする顕微鏡。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (9):
2H052AA00
, 2H052AB06
, 2H052AB14
, 2H052AB24
, 2H052AC04
, 2H052AC27
, 2H052AD01
, 2H052AD34
, 2H052AF00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
-
光源装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-308603
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
蛍光顕微鏡の蛍光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-167930
Applicant:株式会社ニコン
-
少なくとも1つのビームスプリッタと散乱光低減手段とを有する顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-175602
Applicant:ライカミクロジュステムスヴェツラーゲーエムベーハー
-
光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-161147
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
干渉計用光学系の防塵装置およびこれを備えた干渉計装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-266674
Applicant:富士写真光機株式会社
-
テレセントリック照明光学装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-263568
Applicant:株式会社ニコン
-
特開平3-245113
-
特開昭63-027810
Show all
Cited by examiner (7)
-
蛍光顕微鏡の蛍光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-167930
Applicant:株式会社ニコン
-
少なくとも1つのビームスプリッタと散乱光低減手段とを有する顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-175602
Applicant:ライカミクロジュステムスヴェツラーゲーエムベーハー
-
光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-161147
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
干渉計用光学系の防塵装置およびこれを備えた干渉計装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-266674
Applicant:富士写真光機株式会社
-
テレセントリック照明光学装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-263568
Applicant:株式会社ニコン
-
特開平3-245113
-
特開昭63-027810
Show all
Return to Previous Page