試料検査のための方法および装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松田省躬
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2004505779
Publication number (International publication number)：2005526255
Application date： May. 14, 2003
Publication date： Sep. 02, 2005
Summary：

【課題】画像形成顕微鏡システム、それも特にレーザ走査型顕微鏡による蛍光性試料の検査のための方法および/または装置【解決手段】試料が少なくとも1つの切断面で点状または線状に走査され、走査の間試料から発せられるビームが分散および分解され、分解されたビームが少なくとも1組の検出素子DEにより波長別に検出され、これらの検出素子DIの少なくとも1つおよび/またはその他検出素子の少なくとも1つにより記録および保存された強度分布を手掛かりとして、試料から反射したビームに関し、予備保存された2次元または3次元の幾何学形状対象物に相当する、または類似する2次元または3次元の試料部分の選択が画像加工を通して行われる、およびこれら試料領域の少なくとも一部について、それらに配置された蛍光マーカーを基にスペクトル像および/または立体スペクトル配列の分析が行われる方法および/または装置。

Claim (excerpt)：

画像形成顕微鏡システム、それも特にレーザ走査型顕微鏡による蛍光性試料の検査のための方法および/または装置であって; 試料が少なくとも1つの切断面で点状または線状に走査され、走査の間試料から発せられるビームが分散および分解され、分解されたビームが少なくとも1組の検出素子により波長別に検出され、これらの検出素子の少なくとも1つおよび/またはその他検出素子の少なくとも1つにより記録および保存された強度分布を手掛かりとして、試料から反射したビームに関し、予備保存された2次元または3次元の幾何学形状対象物に相当する、または類似する2次元または3次元の試料部分の選択が画像加工を通して行われる、およびこれら試料領域の少なくとも一部について、それらに配置された蛍光マーカーを基にスペクトル像および/または立体スペクトル配列の分析が行われる方法および/または装置。

IPC (2)：

G01N21/64 , G02B21/00

FI (2)：

G01N21/64 E , G02B21/00

F-Term (22)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA05 , 2G043EA01 , 2G043FA02 , 2G043GA08 , 2G043GB21 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA05 , 2G043HA09 , 2G043JA04 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2H052AA08 , 2H052AA09 , 2H052AC04 , 2H052AC15 , 2H052AC26 , 2H052AC34 , 2H052AF07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

生物学研究、医療診断および治療用の分光生物撮像法、蛍光交配方法および細胞分類方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平9-522259 Applicant：スペクトラルダイアグノスティックリミテッド
多数の蛍光色素の定量像化のための装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平6-517853 Applicant：アスルンド,ニルス・エル・デー, カールソン,クイュル・エス

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

Graphical User Interface for Single-Pixel Spectroscopy
Fluorescence Imaging Micro-Spectrophotometer (FIMS)

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