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J-GLOBAL ID：200903004516365758

誘電率および透磁率の測定方法

Inventor：
中山 明

About 中山 明


Applicant, Patent owner：
京セラ株式会社

About 京セラ株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998074036
Publication number (International publication number)：1999271241
Application date： Mar. 23, 1998
Publication date： Oct. 05, 1999
Summary：
【要約】【課題】作製が容易な形状の被測定試料を使用し、外部静磁界を印加することなく、フェライト等の磁性材料の高周波における誘電率と透磁率を容易に、且つ高精度に測定するための方法を提供する。【解決手段】所定の高さL1 、直径a1 を有する磁性材料から成る円柱体6の上下端面を所定の大きさを有する2枚の導体板7、8で挟持した第1の共振器4と、所定の高さL2 、外径b1 、内径b2 を有し、円柱体6と同一材料から成る円筒体9の上下端面を所定の大きさを有する2枚の導体板10、11で挟んで第2の共振器5を形成し、第1共振器4および第2共振器5により生成されたTE011 の共振波形から共振周波数f1 、f2 を測定し、このf1 、f2 から、磁性材料と空気(真空)の境界で成立する電磁界の境界条件に基づき、磁性材料の誘電率と透磁率を算出する。
Claim (excerpt)：
所定の高さL1 、直径a1 を有する磁性材料から成る円柱体の上下端面を、所定の大きさを有する2枚の導体板で挟持した第1の共振器と、所定の高さL2 、外径b1 、内径b2 を有する、前記円柱体と同一の磁性材料から成る円筒体の上下端面を、所定の大きさを有する2枚の導体板で挟んで第2の共振器を形成し、前記第1の共振器および前記第2の共振器により生成されたTE011 モードの共振波形から共振周波数f1 、f2 を測定し、該共振周波数f1 、f2 から、磁性材料と空気の境界で成立する電磁界の境界条件に基づき、前記磁性材料の誘電率を算出することを特徴とする誘電率の測定方法。
IPC (4)：
G01N 22/00 ,  G01R 27/26 ,  G01R 33/12 ,  G01R 33/16
FI (5)：
G01N 22/00 Y ,  G01N 22/00 V ,  G01R 27/26 H ,  G01R 33/12 Z ,  G01R 33/16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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