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J-GLOBAL ID：200903004665692524

オブジェクト指向開発用テスト支援方法および装置

Inventor：
木島 教和

About 木島 教和

, 
新居 健司

About 新居 健司

, 
田森 崇史

About 田森 崇史


Applicant, Patent owner：
日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社

About 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社


Agent (1)： 小川 眞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001080182
Publication number (International publication number)：2002278795
Application date： Mar. 21, 2001
Publication date： Sep. 27, 2002
Summary：
【要約】【課題】 オブジェクト指向開発で作成されたテスト対象について複数のテストケースによるテストを効率良く実施可能にすること。【解決手段】 テスト対象オブジェクトに対する複数のテストケースと該複数のテストケースに共通する処理を行うドライバ情報とを含むテストデータを作成するステップと、前記テストデータ中の複数のテストケース毎の入力値および期待値を取得するステップと、前記テストデータからテストドライバ情報を取得し、該テストドライバ情報で指定されたテストドライバに前記入力値および期待値を入力し、テストケース毎のテストを実行するステップと、テスト結果を出力するステップとを備える。
Claim (excerpt)：
オブジェクト指向プログラム開発で作成されたテスト対象オブジェクトのテストを支援するオブジェクト指向開発用テスト支援方法であって、テスト対象オブジェクトに対する複数のテストケースと該複数のテストケースに共通する処理を行うドライバ情報とを含むテストデータを作成するステップと、前記テストデータ中の複数のテストケース毎の入力値および期待値を取得するステップと、前記テストデータからテストドライバ情報を取得し、該テストドライバ情報で指定されたテストドライバに前記入力値および期待値を入力し、テストケース毎のテストを実行するステップと、テスト結果を出力するステップとを備えたことを特徴とするオブジェクト指向開発用テスト支援方法。
IPC (3)：
G06F 11/28 340 ,  G06F 11/36 ,  G06F 9/44 530
FI (3)：
G06F 11/28 340 A ,  G06F 9/44 530 P ,  G06F 9/06 620 R
F-Term (7)：
5B042GA08 ,  5B042HH12 ,  5B042HH17 ,  5B042MC00 ,  5B076DD04 ,  5B076EC05 ,  5B076EC10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開平4-158454
  • プログラムのテストシステム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-310335   Applicant：日本電気株式会社, 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
  • 特開平2-230433
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