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J-GLOBAL ID：200903004866902853

属性情報処理装置、及び方法

Inventor： 小池 和史 ,  清水 和磨 ,  柳澤 亮三 ,  馬鳥 至之 ,  笹子 悦一 ,  森岡 昌也
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 西山 恵三 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002037036
Publication number (International publication number)：2002328952
Application date： Feb. 14, 2002
Publication date： Nov. 15, 2002
Summary：

【要約】【課題】 CAD装置を用いて作成されるCADモデルに付加された、寸法、寸法公差などの属性情報を利用して、手動計測なども含めた計測作業全般を支援する情報処理装置を実現する。【解決手段】 CAD装置において、作成した寸法、寸法公差などの属性情報が付加されたCADモデルに対して、作業段取り毎に属性情報をグループ化および測定作業情報の付加を行い、測定後工程における効率向上が目的の後工程活用情報入力を行う。

Claim (excerpt)：

CADモデル上の寸法などの属性情報に識別子を付加する識別子付加手段と、属性情報に計測などの作業に必要な情報を付加する作業指示情報付加手段と、属性情報を作業段取り毎にグループ化する作業段取り手段と、計測などの作業に必要な情報を出力する作業情報出力手段と、計測などの作業を教示する作業教示手段と、計測などの作業結果を識別子と属性情報を関連付けて読込む作業結果読込み手段と、作業結果をCADモデルと関連付けて表示する作業結果表示手段とを有することを特徴とする属性情報処理装置。

IPC (3)：

G06F 17/50 608 ,  G06F 17/50 624 ,  B21D 37/20

FI (3)：

G06F 17/50 608 A ,  G06F 17/50 624 E ,  B21D 37/20 Z

F-Term (4)：

4E050JB10 ,  4E050JD03 ,  5B046AA05 ,  5B046HA09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• CADシステムおよび測定寸法値の検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-038567   Applicant：株式会社東芝
• 特開平3-100409
  
• 三次元測定機の制御方法および形状検証方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-110271   Applicant：本田技研工業株式会社
• 測定検査工程におけるデータの管理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-281242   Applicant：財団法人熊本テクノポリス財団
• 属性情報処理装置、及び方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-036805   Applicant：キヤノン株式会社