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J-GLOBAL ID：200903005599044407

顕微鏡観察画像取得方法および顕微鏡システム

Inventor：
三村 正文

About 三村 正文


Applicant, Patent owner：
株式会社ニコン

About 株式会社ニコン


Agent (1)： 永井 冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004200892
Publication number (International publication number)：2006023494
Application date： Jul. 07, 2004
Publication date： Jan. 26, 2006
Summary：
【課題】 安価にかつ装置を大型化しなくても、高精度に位置決めされた顕微鏡の観察画像を取得する方法を提供すること。【解決手段】 顕微鏡システムの制御装置4は、カメラ2を使用して、第1の観察画像と第2の観察画像を取得し、第1の観察画像と第2の観察画像とを第1の観察画像をテンプレートとしてテンプレートマッチングを行い、テンプレートマッチングの結果に基づき第1の観察画像と第2の観察画像との位置のずれ量を検出し、検出した位置のずれ量に基づき第2の観察画像の位置を補正する。このような処理を順次繰り返し、同一観察箇所について時間的にずれた複数の位置ずれが補正された観察画像を取得し、それらを集合して動画化する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
同一観察箇所について時間的にずれた複数の観察画像を取得する顕微鏡観察画像取得方法において、 顕微鏡を通して撮像手段により撮像された第1の観察画像を取得し、 前記第1の観察画像の取得後に顕微鏡を通して撮像手段により撮像された第2の観察画像を取得し、 前記第1の観察画像と前記第2の観察画像とを、前記第1の観察画像をテンプレートとして第1のテンプレートマッチングを行い、 前記第1のテンプレートマッチングの結果に基づき、前記第1の観察画像と前記第2の観察画像との間の第1の位置のずれ量を検出し、 前記第1の位置のずれ量に基づき、前記取得した第2の観察画像を補正した新たな第2の観察画像を生成することを特徴とする顕微鏡観察画像取得方法。
IPC (2)：
G02B 21/36 ,  H04N 7/18
FI (2)：
G02B21/36 ,  H04N7/18 Z
F-Term (10)：
2H052AD18 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25 ,  5C054EA05 ,  5C054ED11 ,  5C054FC11 ,  5C054FE04 ,  5C054HA05 ,  5C054HA12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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