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J-GLOBAL ID:200903005686716268
走査型近視野光学顕微鏡
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
林 敬之助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996056585
Publication number (International publication number):1997243649
Application date: Mar. 13, 1996
Publication date: Sep. 19, 1997
Summary:
【要約】【課題】 波長以下の高分解能を有し,局所的な励起発光測定が可能な近視野光学顕微鏡を提供する。【解決手段】 レーザー光源2とレンズ3とプリズム4を用いて試料5表面にエバネッセント光101を発生させる。光導波プローブ1を試料に接近させ,エバネッセント光101を散乱させ,レンズ7と光検出器8で検出する。Zサ-ボ回路9とZ軸微動素子10を用いてプローブの距離制御を行う。XY走査回路11とXY微動素子12を用いて2次元走査し,データ処理手段13により3次元画像化を行う。
Claim (excerpt):
先端に直径が波長以下の微小開口部を有する光導波プローブと,レーザー光源とレンズとプリズムとからなるエバネッセント光発生手段と,前記光導波プローブを試料表面に接近させる粗動機構と,レンズと光検出器とからなるエバネッセント光検出手段と,Z軸微動素子とZサーボ回路とからなる試料とプローブ間の距離制御手段と,XY微動素子とXY走査回路とからなる2次元走査手段と,測定信号の3次元画像化を行うデータ処理手段とからなる走査型近視野光学顕微鏡。
IPC (2):
FI (2):
G01N 37/00 D
, G01B 11/30 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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走査型光学顕微装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-286046
Applicant:有限会社千里応用計測研究所
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光分析用測定器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-343046
Applicant:株式会社ニコン
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ニアフィールド顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-350961
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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