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J-GLOBAL ID：200903006004628393

水素化物導入システム

Inventor：
高坂 正博

About 高坂 正博


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (2)： 喜多 俊文 ,  江口 裕之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002303749
Publication number (International publication number)：2004138518
Application date： Oct. 18, 2002
Publication date： May. 13, 2004
Summary：
【課題】半金属元素を高感度で分析でき、目的成分を形態別に定量分析が可能な水素化物導入システムを提供する。【解決手段】水素化物発生器1で生成した水素化物はキャリアガスにより除湿部3に導入される。除湿部3で除湿された水素化物を含むキャリアガスは捕集部5に導入され、水素化物は捕集管6で捕集される。捕集管6は気化部7に移動され、温度調節器8により気化部7の温度を上昇させていき、水素化物の沸点より高温に達すると、吸着された水素化物が気化し、原子吸光分光光度計やICP発光分光分析装置等の検出器10に導入される。水素化物は化合物が異なると沸点も異なるため、気化部7の温度を上昇させていくと、沸点の低い化合物から順に気化され、形態別に定量を行うことが可能となる。また、捕集部5で捕集される水素化物の量は、水素化物発生器1に導入される試料量に比例するため、試料の導入量を増やすことにより感度の向上が可能となる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
液体試料中の元素を還元して水素化物に変換する水素化物発生器と、該水素化物発生器で試料から発生した水素化物の沸点より低温に設定した捕集部と、該捕集部で捕集された水素化物を気化するための温度調節機能を有した気化部とを備えたことを特徴とする水素化物導入システム。
IPC (5)：
G01N21/73 ,  G01N1/22 ,  G01N1/28 ,  G01N1/36 ,  G01N21/31
FI (6)：
G01N21/73 ,  G01N1/22 X ,  G01N1/22 Y ,  G01N21/31 610Z ,  G01N1/28 K ,  G01N1/28 Z
F-Term (26)：
2G043AA01 ,  2G043BA07 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA08 ,  2G052AB01 ,  2G052AB11 ,  2G052AD22 ,  2G052AD42 ,  2G052EB01 ,  2G052EB04 ,  2G052EB11 ,  2G052EB13 ,  2G052ED01 ,  2G052ED03 ,  2G052ED09 ,  2G052FD17 ,  2G052GA14 ,  2G052GA15 ,  2G052JA00 ,  2G052JA08 ,  2G059AA01 ,  2G059CC02 ,  2G059CC03 ,  2G059DD01 ,  2G059EE01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 液体薬品中の砒素の定量分析法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-259779   Applicant：住友化学工業株式会社, 株式会社住化分析センター
  • 特開昭62-115343
  • 硫黄の高感度分析法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-235377   Applicant：住友金属鉱山株式会社
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