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J-GLOBAL ID:200903006303439009

被検査面の欠陥検査方法およびその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 八田 幹雄 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997287000
Publication number (International publication number):1999118730
Application date: Oct. 20, 1997
Publication date: Apr. 30, 1999
Summary:
【要約】【目的】 塗装が塗り重ねられるにしたがって欠陥がどのように推移して行くのかを容易に知ることができるようにする。【構成】 電着塗装後の塗装面に存在する欠陥の位置と大きさを記憶し、次に、中塗り塗装後の塗装面に存在する欠陥の位置と大きさを記憶し、最後に、上塗り塗装後の塗装面に存在する欠陥の位置と大きさを記憶する。これらの記憶にしたがい、同一位置に存在する欠陥が塗装の塗り重ねにしたがってどのように推移するのかを調べ、この結果に基づいてそれぞれの塗装工程で手直しすべき欠陥のランクを知る。
Claim (excerpt):
被検査面を複数回に亘って塗装する塗装工程に最適な被検査面の欠陥検査方法であって、塗装終了後、当該被検査面に存在する欠陥の位置、欠陥の程度を当該欠陥ごとに少なくとも2回の塗装について記憶し、当該記憶した欠陥の位置や程度の変化を時系列に調べて欠陥の推移を知ることができるようにしたことを特徴とする被検査面の欠陥検査方法。
IPC (2):
G01N 21/89 ,  G01N 21/88
FI (2):
G01N 21/89 Z ,  G01N 21/88 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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