質量分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：野口繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996219236
Publication number (International publication number)：1998050249
Application date： Jul. 31, 1996
Publication date： Feb. 20, 1998
Summary：

【要約】【課題】飛行時間型質量分析装置で低質量域のイオンが検出されないように除外する。【解決手段】リング状電極4とエンドキャップ電極6,8に適当な高周波電圧と直流電圧を印加し、高質量数のイオンをイオン源ボックス2内に捕捉し、低質量数のイオンをイオン源ボックス2から除去する。その後、イオン引出し電極16にパルス電圧を印加して、イオン源ボックス2内に捕捉された高質量数のイオンを分析部に引出すことにより、低質量域がカットされたマススペクトルを得る。

Claim (excerpt)：

飛行時間型質量分析装置であって、そのイオン源は、リング状電極及びそのリング状電極の両開口部に設けられた一対のエンドキャップ電極からなる三次元四重極で形成されたイオン源ボックス、並びにイオン化手段を備え、前記エンドキャップ電極の一方が分析部に向くように配置され、かつ分析部に向いたそのエンドキャップ電極にはイオン取出し穴が開けられており、前記リング状電極とエンドキャップ電極の少なくとも一方には所定の質量数未満のイオンがリング状電極の半径方向に不安定となってイオン源ボックスから放出され、それ以上の質量数のイオンがイオン源ボックス内に捕捉される条件となる高周波電圧又は高周波電圧と直流電圧とが印加され、その後、イオン源ボックスに補足したイオンを分析部に引き出して分析することを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/10 , H01J 49/40 , G01N 27/62

FI (3)：

H01J 49/10 , H01J 49/40 , G01N 27/62 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

質量分析方法およびそのための装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-305323 Applicant：株式会社日立製作所
特開昭62-044947
特開昭62-276739

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