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J-GLOBAL ID:200903007084995460
高精度位置決め手段、光スイッチング素子、外部共振器半導体レーザ製造手段、及び、波長可変半導体レーザ製造手段
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
上柳 雅誉 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001050520
Publication number (International publication number):2002254400
Application date: Feb. 26, 2001
Publication date: Sep. 10, 2002
Summary:
【要約】【課題】非常に高精度な位置決めができるのにも関わらず、光路を遮断することの無い高精度位置決め手段、光スイッチング素子、半導体レーザの端面及び反射ミラーにダメージを与えず、高精度の間隔を確保できる外部共振器半導体レーザ、及び、波長可変半導体レーザを提供する。【解決手段】シリコン膜に位置決めパターンを設け、部品の位置決め、接着後、シリコン膜を弗化キセノンガスによりエッチング除去する。【効果】シリコン膜成膜及び、弗化キセノンガスエッチングは、低温の工程であるため、樹脂等の部品にも使用でき、しかも、エッチング時に他の部品にダメージを与える事がない。
Claim (excerpt):
基板上にシリコン膜を成膜後、位置決め用パターンをフォトリソ工程で作成すること、光学部品等の位置決め後固定すること、光学部品等の固定後、弗化キセノンガスにより位置決めパターンを除去すること、を特徴とする高精度位置決め手段。
IPC (5):
B81C 3/00
, G02B 6/26
, G02B 26/08
, H01S 5/022
, H01S 5/14
FI (5):
B81C 3/00
, G02B 6/26
, G02B 26/08 E
, H01S 5/022
, H01S 5/14
F-Term (19):
2H037BA32
, 2H037DA02
, 2H037DA11
, 2H037DA17
, 2H041AA14
, 2H041AB14
, 2H041AC06
, 2H041AZ01
, 2H041AZ05
, 2H041AZ08
, 5F073AA67
, 5F073AB27
, 5F073AB28
, 5F073AB29
, 5F073BA01
, 5F073DA21
, 5F073EA03
, 5F073FA23
, 5F073FA27
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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微小部品組立方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-299955
Applicant:松下技研株式会社
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マイクロマシンの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-151865
Applicant:ボールセミコンダクター株式会社
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