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J-GLOBAL ID：200903007650925548

葉面積指数の間接測定方法および間接測定システム

Inventor：
田中 隆文

About 田中 隆文

, 
太田 岳史

About 太田 岳史


Applicant, Patent owner：
国立大学法人名古屋大学

About 国立大学法人名古屋大学


Agent (6)： 杉村 興作 ,  徳永 博 ,  岩佐 義幸 ,  藤谷 史朗 ,  来間 清志 ,  冨田 和幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005370404
Publication number (International publication number)：2007171033
Application date： Dec. 22, 2005
Publication date： Jul. 05, 2007
Summary：
【課題】森林内と森林外との日射量を同時測定しなくても、さらには森林外との日射量の測定自体をなくしても、高精度に葉面積指数を求め得るようにする。【解決手段】葉面積指数を間接的に測定するに際し、広角レンズおよび電子式撮像素子を用いて、近赤外光と赤色光とのそれぞれについて、露出時間を複数種類に変えて所定領域の画像を撮影し、前記所定領域を細分した細分領域毎に、近赤外光と赤色光とのそれぞれについて、前記複数種類の露出時間の画像中で輝度値が露出不足から露出過多までの間の階調の中央値に最も近い画像を選択して、その選択した画像を所定露出時間に正規化した場合の輝度値を求め、前記細分領域毎に求めた近赤外光と赤色光との輝度値から、前記細分領域毎の近赤外光と赤色光との輝度値比を求め、前記輝度値比を用いて相対日射量を推定し、前記相対日射量から葉面積指数を求めるものである。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
葉面積指数を間接的に測定するに際し、 広角レンズおよび電子式撮像素子を用いて、近赤外光と赤色光とのそれぞれについて、露出時間を複数種類に変えて所定領域の画像を撮影し、 前記所定領域を細分した細分領域毎に、近赤外光と赤色光とのそれぞれについて、前記複数種類の露出時間の画像中で輝度値が露出不足から露出過多までの間の階調の中央値に最も近い画像を選択して、その選択した画像を所定露出時間に正規化した場合の輝度値を求め、 前記細分領域毎に求めた近赤外光と赤色光との輝度値から、前記細分領域毎の近赤外光と赤色光との輝度値比を求め、 前記輝度値比を用いて相対日射量を推定し、 前記相対日射量から葉面積指数を求めることを特徴とする、葉面積指数の間接測定方法。
IPC (4)：
G01N 21/27 ,  G01B 11/28 ,  G01W 1/12 ,  A01G 7/00
FI (4)：
G01N21/27 A ,  G01B11/28 H ,  G01W1/12 Z ,  A01G7/00 603
F-Term (34)：
2F065AA58 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065GG10 ,  2F065GG23 ,  2F065GG24 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL10 ,  2F065LL22 ,  2F065NN11 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR09 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059BB12 ,  2G059EE13 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM09 ,  2G059PP06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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