光線路試験システム

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：光石俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996314461
Publication number (International publication number)：1998163966
Application date： Nov. 26, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：

【要約】【課題】光線路試験システムの小型化および経済化を目的とする。【解決手段】光ファイバ5を媒体として光通信を行う伝送装置1,8と、光ファイバ5に試験光を挿入する光力プラ4と、伝送装置1,8の直前に、通信光は透過し試験光を遮断する光フィルタ2,7を供え、光カプラ4は4つの入出力ポートa,b,c,dを供え、そのうちa,cポートには光通信を行う光ファイバ5を接続し、bポートには1×Nの心線選択装置10を接続し、心線選択装置10の可動側には、試験光として通信光より長波長帯の変調光を出力する安定化光源9を接続し、dポートには試験光のみ反射する光フィルタ11を接続し、その先には通信光、試験光ともに吸収する無反射端12が接続されていることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

光ファイバを媒体として光通信を行う二つの伝送装置と、光ファイバに試験光を挿入する光カプラと、二つの伝送装置の直前に、通信光は透過し試験光を遮断する光フィルタをそれぞれ供え、光カプラは4つの入出力ポートを供え、そのうち二つのポートには光通信を行う光ファイバを接続し、残りのうちの一つのポートには1×Nの心線選択装置を接続し、心線選択装置の可動側には、試験光として通信光より長波長帯の変調光を出力する安定化光源を接続し、残りのうちの他のポートには試験光のみ反射する光フィルタを接続し、その先には通信光、試験光ともに吸収する無反射端が接続されていることを特徴とする光線路試験システム。

IPC (3)：

H04B 10/08 , G02B 6/00 , H04B 3/46

FI (3)：

H04B 9/00 K , H04B 3/46 B , G02B 6/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平2-001632
光部品自動測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-180901 Applicant：古河電気工業株式会社, 日本電信電話株式会社
光部品自動測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-180902 Applicant：古河電気工業株式会社, 日本電信電話株式会社

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