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J-GLOBAL ID：200903082446602634

光部品自動測定装置

Inventor： 伊藤 良久 ,  頼成 洋 ,  川添 英世 ,  千田 和憲 ,  花房 廣明
Applicant, Patent owner： 古河電気工業株式会社 ,  日本電信電話株式会社
Agent (1)： 小林 正治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993180901
Publication number (International publication number)：1995083795
Application date： Jun. 25, 1993
Publication date： Mar. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】 挿入損失と反射減衰量を同じ測定系で測定でき、構成が簡潔で、作業性が良く、効率良く測定できるようにする。【構成】 光源1、光部品2の入力側ポートと複数心単位で切り替え接続可能な入力側ヘッド部3、光部品2の出力側ポートと複数心単位で切り替え可能な出力側ヘッド部4、出力側ヘッド部4からの出力光を測定する出力光受光器5、光部品2からの反射光を取り出すカプラ6、同カプラ6により取り出された反射光を受ける反射光受光器7、入力側ヘッド部3及び出力側ヘッド部4の切替え、試験槽10の温度等の制御を行うコンピュータ11を設けた。光源1を異なる波長光を発光可能な2チャンネルのものにした。出力側可動ヘッド23の出力側接続端部9を斜めに成形した。

Claim (excerpt)：

光源1、検査される光部品2の入力側ポートと複数心単位で切り替え可能な入力側ヘッド部3、同光部品2の出力側ポートと複数心単位で切り替え可能な出力側ヘッド部4、同出力側ヘッド部4からの出力光を受ける出力光受光器5、光部品2からの反射光を取り出すカプラ6、同カプラ6により取り出された反射光を受ける反射光受光器7を備えたことを特徴とする光部品自動測定装置。

IPC (4)：

G01M 11/00 ,  H01L 21/301 ,  H01L 33/00 ,  B65H 43/08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 光ケーブルの検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-224320   Applicant：住友電気工業株式会社
• 特開昭63-109346
  
• 光線路評価方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-181304   Applicant：日本電信電話株式会社
• 特開昭61-258138
  
• 特開昭55-152433