物体の位置および回転位置を求める方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：矢野敏雄 (外4名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000538203
Publication number (International publication number)：2002507735
Application date： Mar. 22, 1999
Publication date： Mar. 12, 2002
Summary：

【要約】本発明は、物体(1)の空間位置および回転位置を求める方法に関する。この場合、結像光学系(5)を用いて、物体(1)が局所分解を行う検出器(7)上で結像されて検出される。位置ベクトル、物体軸(4)の方向ベクトル、物体軸(4)を中心とした物体(1)の回転角(k)などのような物体(1)のロケーションパラメータが、幾何学的光学的関係と数学的評価手法によって、検出器(7)の座標系(xDet ,yDet )内にマッピングされた物体構造(2a;2b)の平面位置から求められる。これによって、物体(1)の空間位置が迅速かつ無接触で捕捉検出される。

Claim (excerpt)：

結像光学系(5)と、2次元で局所分解を行う光電式検出器(7)と、評価装置(8)とを備えた光学的測定ヘッド(9,9a,9b,9c)を用い、前記結像光学系(5)の視野内に存在する物体(1)の一部分を前記検出器(7)上で結像させて検出し、検出した画像情報を前記評価装置(8)へ供給することで、3次元空間における物体(1)の位置および回転位置を求める求める方法において、前記評価装置(8)内で、検出器(7)上に結像された物体(1)の少なくとも一部分について、該検出器(7)上に結像された物体構造(2a;2b)の位置および/または推移を求め、前記検出器(7)上に結像された物体構造(2a;2b)の結像スケールおよびゆがみの位置依存性から、前記結像光学系(5)の結像特性をいっしょに用いて、ロケーションパラメータにより記述される空間内での物体(1)の位置および/または回転位置を求め、結像された物体構造(2a;2b)から幾何学的なベクトル方程式を用いて前記ロケーションパラメータを求め、および/または数学的な最適化法を用いて前記ロケーションパラメータを変化させ、それらのロケーションパラメータから計算された検出器画像を物体(1)の検出された画像情報と最適にまたは少なくとも十分良好に一致させることを特徴とする、 3次元空間における物体の位置および回転位置を求める求める方法。

IPC (2)：

G01C 15/00 103 , G01B 11/00

FI (2)：

G01C 15/00 103 Z , G01B 11/00 H

F-Term (16)：

2F065AA04 , 2F065CC00 , 2F065CC09 , 2F065DD06 , 2F065FF01 , 2F065FF04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ19 , 2F065JJ25 , 2F065JJ26 , 2F065LL12 , 2F065LL20 , 2F065LL30 , 2F065LL53 , 2F065QQ31

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平4-370706
認識対象物体の位置姿勢認識装置および位置姿勢認識方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-339226 Applicant：東京電力株式会社, 株式会社東芝
特開平4-370706

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