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J-GLOBAL ID:200903008123789543

細胞及び組織の損傷を評価する方法及びその測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 廣田 雅紀
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003379084
Publication number (International publication number):2005137307
Application date: Nov. 07, 2003
Publication date: Jun. 02, 2005
Summary:
【課題】 培養細胞および組織を培養装置内に静置した状態で、電気抵抗値を測定し、細胞および組織の損傷を評価する方法および電気抵抗値の測定用装置を提供する。【解決手段】 電極を組織の上面側(上面(apical surface)42とその上部空間22を含む)と基底面側(基底面(basal surface)43、細胞外基質43及び43と41に囲まれた部分、その下部空間23を含む)とに装着されるように設置した培養器で、培養した組織の電気抵抗値を測定する。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
電極が、組織の上面側(上面(apical surface)(図2の符号(以下の説明においても同様)42)とその上部空間(22)を含む)と基底面側(基底面(basal surface)(43)、細胞外基質(43及び43と41に囲まれた部分)、その下部空間(23)を含む)とに装着されるように設置した培養器で、培養した組織の電気抵抗値を測定することを特徴とする組織の損傷を評価する方法。
IPC (5):
C12Q1/02 ,  C12M1/34 ,  C12M3/00 ,  G01N27/04 ,  G01N27/20
FI (5):
C12Q1/02 ,  C12M1/34 A ,  C12M3/00 A ,  G01N27/04 Z ,  G01N27/20 Z
F-Term (35):
2G060AA06 ,  2G060AD06 ,  2G060AE01 ,  2G060AF07 ,  2G060AG07 ,  2G060AG08 ,  2G060AG11 ,  2G060AG15 ,  2G060GA01 ,  2G060HA01 ,  2G060HC08 ,  2G060HC13 ,  2G060HC19 ,  2G060HD03 ,  2G060HE02 ,  2G060KA11 ,  4B029AA02 ,  4B029AA07 ,  4B029AA08 ,  4B029BB11 ,  4B029CC02 ,  4B029DF10 ,  4B029DG10 ,  4B029FA15 ,  4B029GA08 ,  4B029GB01 ,  4B029GB02 ,  4B029GB06 ,  4B029GB10 ,  4B063QA01 ,  4B063QQ08 ,  4B063QR77 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 国立機関原子力試験研究成果報告書, 2001, Vol.40, pp.82.1-82.4

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