細胞及び組織の損傷を評価する方法及びその測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：廣田雅紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003379084
Publication number (International publication number)：2005137307
Application date： Nov. 07, 2003
Publication date： Jun. 02, 2005
Summary：

【課題】培養細胞および組織を培養装置内に静置した状態で、電気抵抗値を測定し、細胞および組織の損傷を評価する方法および電気抵抗値の測定用装置を提供する。【解決手段】電極を組織の上面側(上面(apical surface)42とその上部空間22を含む)と基底面側(基底面(basal surface)43、細胞外基質43及び43と41に囲まれた部分、その下部空間23を含む)とに装着されるように設置した培養器で、培養した組織の電気抵抗値を測定する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

電極が、組織の上面側(上面(apical surface)(図2の符号(以下の説明においても同様)42)とその上部空間(22)を含む)と基底面側(基底面(basal surface)(43)、細胞外基質(43及び43と41に囲まれた部分)、その下部空間(23)を含む)とに装着されるように設置した培養器で、培養した組織の電気抵抗値を測定することを特徴とする組織の損傷を評価する方法。

IPC (5)：

C12Q1/02 , C12M1/34 , C12M3/00 , G01N27/04 , G01N27/20

FI (5)：

C12Q1/02 , C12M1/34 A , C12M3/00 A , G01N27/04 Z , G01N27/20 Z

F-Term (35)：

2G060AA06 , 2G060AD06 , 2G060AE01 , 2G060AF07 , 2G060AG07 , 2G060AG08 , 2G060AG11 , 2G060AG15 , 2G060GA01 , 2G060HA01 , 2G060HC08 , 2G060HC13 , 2G060HC19 , 2G060HD03 , 2G060HE02 , 2G060KA11 , 4B029AA02 , 4B029AA07 , 4B029AA08 , 4B029BB11 , 4B029CC02 , 4B029DF10 , 4B029DG10 , 4B029FA15 , 4B029GA08 , 4B029GB01 , 4B029GB02 , 4B029GB06 , 4B029GB10 , 4B063QA01 , 4B063QQ08 , 4B063QR77 , 4B063QS36 , 4B063QS39 , 4B063QX04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

基底膜標品又は人工組織
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-278244 Applicant：科学技術振興事業団

Cited by examiner (4)

基底膜標品又は人工組織
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-278244 Applicant：科学技術振興事業団
光学的手法を用いた子宮内酸素動態の測定方法とその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-344514 Applicant：科学技術振興事業団
測定器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-111066 Applicant：横河電機株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

国立機関原子力試験研究成果報告書, 2001, Vol.40, pp.82.1-82.4
国立機関原子力試験研究成果報告書, 2001, Vol.40, pp.82.1-82.4

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