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J-GLOBAL ID:200903008246716532

筒状体内面付着層の厚さ測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 鎌田 文二 ,  東尾 正博 ,  鳥居 和久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003368959
Publication number (International publication number):2005134192
Application date: Oct. 29, 2003
Publication date: May. 26, 2005
Summary:
【課題】送受信される超音波によって筒状体内面付着層の物性を推定または確認でき、また筒状体内面の付着層の厚さを正確に推測でき、すなわち筒状体内面の付着層の厚さをその物性に応じて簡易かつ正確に測定できる方法にすることである。【解決手段】一対の送信側探触子2と受信側探触子3を検査対象の鋼鉄製筒状体5の外面に所定間隔を開けて設置し、両探触子2、3間に超音波を送受信することにより、筒状体5に板波6を伝播させる。送信された所定範囲の周波数について、探触子3に受信される超音波の速度または振幅を測定する。前記周波数に対する速度または振幅の変化傾向Aを調べ、また筒状体内面を付着物のない状態または付着層の厚さを既知の状態で、両探触子2、3間に送受信された超音波の所定周波数に対する速度または振幅の基準変化Bを調べ、これらの変化傾向Aおよび基準変化Bを比較することにより、筒状体内面付着層の厚さの推定値を求める筒状体内面付着層の厚さ測定方法である。【選択図】図1
Claim (excerpt):
一対の探触子を検査対象の筒状体外面に設置し、両探触子間に超音波を送受信することにより筒状体に板波を伝播させ、送信された所定範囲の周波数について前記探触子に受信される超音波の速度もしくは振幅または両者を測定して、前記周波数に対する速度または振幅の変化傾向Aを調べ、また筒状体内面を付着物のない状態または付着層の厚さを既知の状態で両探触子間に送受信された超音波の所定周波数に対する速度もしくは振幅または両者の基準変化Bを調べ、これら変化傾向Aおよび基準変化Bを所定周波数に対する速度もしくは振幅または両者について比較することにより、筒状体内面付着層の厚さの推定値を求めることからなる筒状体内面付着層の厚さ測定方法。
IPC (3):
G01B17/02 ,  G01N29/18 ,  G01N29/20
FI (3):
G01B17/02 B ,  G01N29/18 ,  G01N29/20
F-Term (19):
2F068AA28 ,  2F068BB09 ,  2F068BB14 ,  2F068DD12 ,  2F068EE07 ,  2F068FF04 ,  2F068FF15 ,  2F068FF25 ,  2F068KK15 ,  2F068QQ45 ,  2G047AA02 ,  2G047BC02 ,  2G047BC03 ,  2G047BC12 ,  2G047BC18 ,  2G047CB04 ,  2G047GF08 ,  2G047GG19 ,  2G047GG33
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (8)
  • 特開昭57-187609
  • 特開平4-372810
  • 特開昭61-270656
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Article cited by the Patent:
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