物質の熱的調査方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：石原昌典 , 石原孝志 , 生井和平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003159822
Publication number (International publication number)：2004012462
Application date： Jun. 04, 2003
Publication date： Jan. 15, 2004
Summary：

【課題】等温区分及び非等温区分から成る温度プロファイルによって物質をドライブすることで熱的に物質を調査する方法及び装置を提供する。【解決手段】本方法及び装置は、温度プロファイルへ物質を晒すことによって生成される温度反応を表わす信号(400)を測定・評価する。非動的区分(200、201、202、203;300)に伴う時間区分期間中に測定される応答信号値を用いて、測定応答信号(400)の動的成分(404)を引き出すことで、物質を熱的に調査する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

物質の熱的調査方法であって、該方法は、前記物質を時間制御された温度プロファイルへ晒し、生成される温度反応を表わす信号(400)を測定及び評価し、前記温度プロファイルは、関連する時間区分にわたって温度が変動する動的区分(204、205、206;301)及び前記温度の変動が関連する時間区分にわたって前記動的区分における前記温度変動に対して小さい非動的区分(200、201、202、203;300)の時間連続を含み、前記動的区分のそれぞれが前記非動的区分の2つの連続区分間にあり、前記評価には測定応答信号から熱容量関連情報を得るための前記動的区分(204、205、206;301)に関連する時間区分中に測定された応答信号値の使用が含まれ、非動的区分(200、201、202、203;300)に伴う時間区分期間中に測定される応答信号値を用いて前記測定応答信号(400)の動的成分(404)を引き出すことを特徴とする物質の熱的調査方法。

IPC (1)：

G01N25/20

FI (1)：

G01N25/20 B

F-Term (9)：

2G040AB05 , 2G040CA02 , 2G040CB03 , 2G040DA02 , 2G040EA02 , 2G040EB02 , 2G040EC08 , 2G040EC09 , 2G040HA06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

実部信号成分と虚部信号成分を用いた示差分析のための装置および方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-500986 Applicant：ザパーキン-エルマーコーポレイション
実部成分と虚部成分を用いた示差分析
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-500987 Applicant：ザパーキン-エルマーコーポレイション
熱分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-238408 Applicant：セイコー電子工業株式会社

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