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J-GLOBAL ID:200903028740939731

実部成分と虚部成分を用いた示差分析

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 矢野 敏雄 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1996500987
Publication number (International publication number):1998504382
Application date: May. 22, 1995
Publication date: Apr. 28, 1998
Summary:
【要約】本発明は示差分析方法および装置(10)に関する。この場合、試料(58)と基準物質(56)に対し、直線的に変化する部分と周期的に変化する部分の和から成る規定の関数に従い、温度変化のような外部で加えられる撹乱を受けさせ、測定された差分信号を処理して、信号においてエネルギーストレージ部分とエネルギーロス部分にそれぞれ係わる実部成分と虚部成分を形成する。
Claim (excerpt):
示差分析装置において、 試料を保持する手段および基準物質を保持する手段と、 試料用の前記手段における試料と基準物質用の前記手段における基準物質に対し、直線的に変化する部分と周期的に変化する部分の和から成る規定の関数に従い外部で加えられる撹乱を受けさせる手段と、 前記規定の関数に従い外部で加えられる撹乱を受けた試料と基準物質から得られる差分信号を表すデータを受け取る手段と、 前記データを処理して、前記試料の少なくとも1つの特性パラメータを供給し、前記少なくとも1つのパラメータを、該少なくとも1つのパラメータにおけるエネルギーストレージ部分に関する成分とエネルギーロス部分に関する成分とに分離する手段とが設けられていることを特徴とする、 示差分析装置。
IPC (2):
G01N 25/20 ,  G01K 17/00
FI (2):
G01N 25/20 A ,  G01K 17/00 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 熱分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-238408   Applicant:セイコー電子工業株式会社
  • 示差走査熱量計加熱炉
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-313622   Applicant:株式会社島津製作所
  • 特開平4-062460

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