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J-GLOBAL ID：200903009140467270

イオントラップ質量分析方法

Inventor：
加藤 義昭

About 加藤 義昭


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999342835
Publication number (International publication number)：2002184348
Application date： Dec. 02, 1999
Publication date： Jun. 28, 2002
Summary：
【要約】【課題】イオントラップ質量分析計を用いた有機化合物の分析において、高感度で高信頼性の定量分析を達成する。【解決手段】同位体ピークを含む広質量範囲のイオンを単離した後、複数のイオンを同時に衝突誘起解離を行う。娘イオンマススペクトルを得る。得られる娘イオンの同位元体ピークのイオン電流値を積算する。娘イオンの同位体パターンと計算値を比較する事により、分析の良否判定を行う事ができる。
Claim (excerpt)：
質量対電荷比が所定の質量範囲内にあるイオンをトラップするように構成された三次元四重極電界を有するイオントラップ空間を形成し、前記トラップ空間の中でイオンを生成するかまたは外部からイオンを注入して前記質量対電荷比が所定の範囲内にあるイオンを前記イオントラップ空間の中にトラップし、前駆イオンをイオントラップ空間に残しそれ以外のイオンを除去し、トラップした前駆イオンの衝突誘起解離を行い、娘イオンを生成してイオントラップ空間にトラップし、四重極電界を変化させ娘イオンのイオン電流を検出する質量分析方法において、2質量以上の質量範囲の前駆イオンをイオントラップ空間に残し、この質量範囲に含まれる異なる質量の前駆イオンの衝突誘起解離を行う事を特徴とする質量分析方法。
IPC (3)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/62 ZAB
FI (3)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 ZAB V
F-Term (4)：
5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ09 ,  5C038JJ11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (7)
  • 特表平7-502138
  • 特表平7-502138
  • 質量スペクトル解析法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-145992   Applicant：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
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