分析装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高橋明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998109016
Publication number (International publication number)：1999304760
Application date： Apr. 20, 1998
Publication date： Nov. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】ダイオキシンや有機ニトロ化合物等を容易かつ高感度に測定する。【解決手段】試料を負のコロナ放電を用いて効率的にイオン化し、生成した負イオンを質量分析計を用いて測定する。【効果】ダイオキシンやニトロ化合物等を容易に分析できる。

Claim (excerpt)：

測定すべき気体試料を導入する試料導入部と、導入された上記気体試料を負のコロナ放電するコロナ放電部と、上記コロナ放電によって生じたイオンを質量分析する質量分析部を具備することを特徴とする分析装置。

IPC (5)：

G01N 27/62 ZAB , G01N 27/68 , H01J 49/04 , H01J 49/10 , H01J 49/26

FI (5)：

G01N 27/62 ZAB V , G01N 27/68 B , H01J 49/04 , H01J 49/10 , H01J 49/26

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

大気圧イオン化質量分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-279310 Applicant：株式会社日立製作所
高分子センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-215643 Applicant：富士電機株式会社
質量分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-104909 Applicant：株式会社日立製作所

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Cited by examiner (8)

大気圧イオン化質量分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-279310 Applicant：株式会社日立製作所
特開昭59-035347
特開昭59-035347

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