Pat
J-GLOBAL ID:200903067265793269
分析装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998109016
Publication number (International publication number):1999304760
Application date: Apr. 20, 1998
Publication date: Nov. 05, 1999
Summary:
【要約】【課題】ダイオキシンや有機ニトロ化合物等を容易かつ高感度に測定する。【解決手段】試料を負のコロナ放電を用いて効率的にイオン化し、生成した負イオンを質量分析計を用いて測定する。【効果】ダイオキシンやニトロ化合物等を容易に分析できる。
Claim (excerpt):
測定すべき気体試料を導入する試料導入部と、導入された上記気体試料を負のコロナ放電するコロナ放電部と、上記コロナ放電によって生じたイオンを質量分析する質量分析部を具備することを特徴とする分析装置。
IPC (5):
G01N 27/62 ZAB
, G01N 27/68
, H01J 49/04
, H01J 49/10
, H01J 49/26
FI (5):
G01N 27/62 ZAB V
, G01N 27/68 B
, H01J 49/04
, H01J 49/10
, H01J 49/26
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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大気圧イオン化質量分析計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-279310
Applicant:株式会社日立製作所
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高分子センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-215643
Applicant:富士電機株式会社
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質量分析計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-104909
Applicant:株式会社日立製作所
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特開昭59-035347
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気体中の不純物濃度の測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-204973
Applicant:株式会社日本エイピーアイ
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気体中の不純物濃度の測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-254415
Applicant:株式会社日本エイピーアイ
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Cited by examiner (8)
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大気圧イオン化質量分析計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-279310
Applicant:株式会社日立製作所
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特開昭59-035347
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特開昭59-035347
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気体中の不純物濃度の測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-254415
Applicant:株式会社日本エイピーアイ
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高分子センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-215643
Applicant:富士電機株式会社
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質量分析計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-104909
Applicant:株式会社日立製作所
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気体中の不純物濃度の測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-204973
Applicant:株式会社日本エイピーアイ
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特開昭59-035347
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