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J-GLOBAL ID:200903009169383572

質量分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 平木 祐輔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994311965
Publication number (International publication number):1996166371
Application date: Dec. 15, 1994
Publication date: Jun. 25, 1996
Summary:
【要約】【目的】 大気圧イオン源で生成したイオンを効率良くイオントラップ質量分析計に導入し、分析を行う。【構成】 大気圧イオン源における差動排気部において、ノズル5とスキマー9の間に第2ノズル7を有する遮蔽板設けた構成とする。ノズル5直後に発生する超音速流領域を圧縮して液滴の気化効率を高め、イオンのクラスタリングを抑えてイオンを高感度に分析する。
Claim (excerpt):
大気圧またはこれに準じた圧力下で試料溶液をイオン化するイオン化手段と、前記イオン化手段によって生成されたイオンを加熱された第1のノズルを通して導入するための差動排気部と、前記差動排気部に加熱されたスキマーを介して接続された高真空室と、前記スキマーを通して前記高真空室中に導入されたイオンを質量分析して検出するためのイオントラップ型質量分析部からなる質量分析装置において、前記差動排気部内に、直線的な流路を有する第2のノズルを備える遮蔽板を、第2のノズルの出口が前記イオントラップ質量分析部のエンドキャップ電極に対向するように設けたことを特徴とする質量分析装置。
IPC (2):
G01N 27/62 ,  G01N 30/72
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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