波長検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：木村高久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999051611
Publication number (International publication number)：2000162047
Application date： Feb. 26, 1999
Publication date： Jun. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】分光器に個体差があったり測定環境が変動したりして分光器の特性が変化したとしても、被検出光源から出力される被検出光の波長を誤差なく精度よく検出できるようにする。【解決手段】基準光源2で基準光として波長λn、λaが異なる2以上の基準光Ln、Laが発光される。そしてセンサ10上における2以上の基準光Ln、Laの検出位置Sn、Saと、2以上の基準光Ln、Laの既知の波長λn、λaとに基づいて、分光器7の実際の特性値Dが演算される(D=(λa-λn)/(Sa-Sn))。そしてセンサ10上における基準光Lnおよび被検出光L0の検出位置Sn、S0と、上記演算された分光器7の実際の特性値Dと、基準光Lnの既知の波長λnとに基づいて、被検出光L0の波長λ0が演算される(λ0=λn+(S0-Sn)・D)。

Claim (excerpt)：

基準光源で発光される基準光を分光器に入力するとともに被検出光源で発光される被検出光を前記分光器に入力して、基準光および被検出光をセンサ上に導き、当該センサ上における前記基準光および前記被検出光の検出位置と、前記分光器の特性値と、前記基準光の既知の波長とに基づいて、前記被検出光の波長を演算するようにした波長検出装置において、前記基準光源で前記基準光として波長が異なる2以上の基準光を発光させ、前記センサ上における前記2以上の基準光の検出位置と、前記2以上の基準光の既知の波長とに基づいて、前記分光器の実際の特性値を演算し、前記センサ上における前記基準光および前記被検出光の検出位置と、前記演算された前記分光器の実際の特性値と、前記基準光の既知の波長とに基づいて、前記被検出光の波長を演算するようにした波長検出装置。

IPC (3)：

G01J 9/02 , G01J 3/28 , H01S 3/00

FI (3)：

G01J 9/02 , G01J 3/28 , H01S 3/00 G

F-Term (25)：

2G020AA05 , 2G020BA20 , 2G020CA12 , 2G020CB04 , 2G020CB06 , 2G020CB23 , 2G020CB27 , 2G020CB44 , 2G020CC04 , 2G020CC23 , 2G020CC42 , 2G020CC47 , 2G020CC63 , 2G020CD05 , 2G020CD24 , 2G020CD39 , 5F072AA06 , 5F072HH02 , 5F072HH05 , 5F072JJ13 , 5F072KK07 , 5F072KK08 , 5F072KK15 , 5F072RR05 , 5F072YY09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

発光分光分析装置のデータ処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-136651 Applicant：株式会社島津製作所
特開平1-321325
波長検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-157038 Applicant：株式会社小松製作所

Show all

Return to Previous Page