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J-GLOBAL ID：200903033148738743

発光分光分析装置のデータ処理方法

Inventor： 土生 俊也 ,  村上 浩一 ,  松葉 哲治
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997136651
Publication number (International publication number)：1998332485
Application date： May. 27, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：

【要約】【課題】温度調整を不要にして構成を簡略化し、温風の悪影響も無くす。【解決手段】イメージセンサを用いた発光分光分析装置で、試料の主要元素が発するスペクトル光のうちの2つ以上を基準波長光とし、その入射可能な範囲W1,W2を基準波長光毎にイメージセンサ上に設定しておき、試料のスペクトル光もしくはスペクトル光に相当する光を受光したイメージセンサの前記範囲W1,W2内で、基準波長光もしくは前記光を探してその位置N1,N2を読み取り、これらの位置と、基準波長光もしくは前記光の波長λ1,λ2とから、この発光分光分析装置の分光系の変移の度合いを示す分散係数a[a=(λ2-λ1)/(N2-N1)]を算出し、この分散係数aを用いて、測定対象のスペクトル光のイメージセンサ上での入射位置Nxや、もしくはイメージセンサ上の位置Nxに対応するスペクトル光の波長λxを計算により求める。

Claim (excerpt)：

光検出器にイメージセンサを用いた発光分光分析装置におけるデータ処理方法であって、試料の主要元素が発するスペクトル光のうちの2つ以上を基準波長光として設定したうえで、設定した基準波長光もしくは基準波長光に相当する光のイメージセンサ上での入射位置から、この発光分光分析装置の分光系の変位の度合いを算出し、算出した分光系の変位の度合いに基づいて、測定対象スペクトル光のイメージセンサ上での入射位置を補正することを特徴とする発光分光分析装置のデータ処理方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 分光分析計の波長校正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-228128   Applicant：株式会社クボタ
• 分光型走査顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-344573   Applicant：株式会社日立製作所
• 発光分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-340842   Applicant：株式会社島津製作所