Pat

J-GLOBAL ID：200903010170557531

電気光学サンプリングオシロスコープ

Inventor： 竹内 伸成 ,  柳沢 幸樹 ,  菊池 潤 ,  伴城 暢一 ,  遠藤 善雄 ,  品川 満 ,  永妻 忠夫 ,  山田 順三
Applicant, Patent owner： 安藤電気株式会社 ,  日本電信電話株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外9名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998122514
Publication number (International publication number)：1999316245
Application date： May. 01, 1998
Publication date： Nov. 16, 1999
Summary：

【要約】【課題】 検出信号のS/Nを容易に改善することができる電気光学サンプリングオシロスコープを得ること。【解決手段】 本発明は、被測定信号による電界に応じてその屈折率が変化する電気光学結晶と、電気光学結晶透過した基準レーザ光を反射する反射鏡と、反射鏡により反射された基準レーザ光を第1の信号光La1およびla2として分岐する偏光ビームスプリッタと、第1の信号光La1を受光する第1のフォトダイオード18と、第2の信号光La2を受光する第2のフォトダイオード19と、第1の電気信号S1を増幅する第1の増幅器20と、第2の電気信号S2を増幅する増幅部21と、第2の増幅器100のゲインG2を調整するゲイン調整部22と、S/N調整時に差動増幅器23の出力信号である検出信号S0がゼロになるようにゲイン調整部22を制御する制御部25とを有している。

Claim (excerpt)：

基準レーザ光を発生する発光手段と、その表面に前記基準レーザ光が入射され、被測定信号により生じる電界の強度に応じてその屈折率が変化する電気光学結晶と、前記電気光学結晶の裏面に形成され前記電気光学結晶を透過した前記基準レーザ光を反射する反射鏡と、前記反射鏡により反射された前記基準レーザ光を第1の信号光と第2の信号光とに分岐する光学回路と、前記第1の信号光を第1の電気信号に変換する第1の光/電気変換手段と、前記第2の信号光を第2の電気信号に変換する第2の光/電気変換手段と、前記第1の電気信号と前記第2の電気信号とを差動増幅して、差動増幅結果を前記被測定信号の検出信号として出力する差動増幅手段と、S/N調整時において、前記発光手段から前記基準レーザ光が発生されていないとき、前記検出信号のフィードバックを受けながら、前記第1の電気信号のレベルと前記第2の電気信号のレベルとが一致するようにゲイン調整するゲイン調整手段と、を具備することを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープ。

IPC (3)：

G01R 13/38 ,  G01R 19/00 ,  G01R 31/302

FI (3)：

G01R 13/38 ,  G01R 19/00 V ,  G01R 31/28 L

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光ビームテスタ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-016455   Applicant：富士通株式会社
• 光CT或いは光PDの計測回路
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-280502   Applicant：東洋通信機株式会社