位相感応性ヘテロダイン・コヒーレント・アンチ・ストークス・ラマン散乱顕微分光法、ならびに顕微鏡観察システムおよび方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：吉田研二 , 石田純
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2007527608
Publication number (International publication number)：2008502915
Application date： Jun. 03, 2005
Publication date： Jan. 31, 2008
Summary：

試料体積中で非線形のコヒーレントな場を検出するシステムを開示する。システムは、第1周波数で第1電磁場を発生する第1のソースと、第2周波数で第2電磁場を発生する第2のソースと、第1および第2の電磁場を試料の体積方向に導く第1の光学系と、第1および第2の電磁場を局部発振器の体積方向に導く第2の光学系と、干渉計とを含む。干渉計は、試料体積中で第1の電磁場と第2の電磁場との相互作用により発生する第1の散乱場と、局部発振器の体積中で第1の電磁場と第2の電磁場との相互作用により発生する第2の散乱場とを干渉させる。

Claim (excerpt)：

試料体積中で誘起される非線形コヒーレント場を検出するシステムであって、第1周波数で第1電磁場を発生する第1のソースと、第2周波数で第2電磁場を発生する第2のソースと、前記第1および第2の電磁場を前記試料体積方向に導く第1の光学系と、前記第1および第2の電磁場を局部発振器の体積方向に導く第2の光学系と、前記試料体積中で前記第1の電磁場と前記第2の電磁場との相互作用により発生する第1の散乱場と、前記局部発振器体積中で第1の電磁場と第2の電磁場との相互作用により発生する第2の散乱場とを干渉させる干渉計と、を含むシステム。

IPC (3)：

G01N 21/65 , G01J 3/44 , G01J 9/00

FI (3)：

G01N21/65 , G01J3/44 , G01J9/00

F-Term (30)：

2G020AA03 , 2G020BA20 , 2G020CA04 , 2G020CB23 , 2G020CB42 , 2G020CC22 , 2G020CC26 , 2G020CD03 , 2G020CD13 , 2G020CD16 , 2G020CD23 , 2G020CD24 , 2G020CD35 , 2G020CD36 , 2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043EA04 , 2G043FA02 , 2G043GA08 , 2G043GB28 , 2G043HA01 , 2G043HA07 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043JA03 , 2G043KA01 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G043NA01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

米国特許第6,809,814号
米国特許第6,798,507号

Cited by examiner (3)

光学コヒーレンス断層撮影法を用いたドップラー流の撮像
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平11-502654 Applicant：イザット,ジョーゼフ,エイ., クルカーニ,マニッシュ,ディー., ヤツダンファー,シアバッシュ, ローリンズ,アンドルー, シバック,マイケル,ブイ.
特開平4-135549
光波反射断層像観測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-239882 Applicant：科学技術振興事業団

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

OPTICS EXPRESS, 20040126, V12 N2, P331-341

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