観測画像信号解析のための濃淡画像処理方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：杉村興作 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001068723
Publication number (International publication number)：2002269541
Application date： Mar. 12, 2001
Publication date： Sep. 20, 2002
Summary：

【要約】【課題】従来の方法より高精度な解析を可能とする磁気記録媒体のMFM観察像から磁気記録媒体の磁極領域の形状及び方向性を得る方法を提供する。【解決手段】前記磁気記録媒体のMFM観察像に遺伝的アルゴリズムを用いて前記磁気記録媒体における磁極領域を抽出するステップと、前記抽出された磁極領域の画素値の平均値をしきい値とし、前記MFM観察像を二値化し、二値化画像を得るステップと、前記二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、磁極領域の細線化画像を得るステップと、前記細線化画像における線要素にハフ変換を適用するステップとを含む。

Claim (excerpt)：

濃淡画像信における特定濃度領域の形状を得る濃淡画像処理方法において、前記濃淡画像信号を二値化し、二値化画像を得るステップと、前記二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、細線化画像を得るステップとを含むことを特徴とする濃淡画像処理方法。

IPC (4)：

G06T 1/00 300 , G06T 5/30 , G06T 7/60 200 , G11B 5/84

FI (4)：

G06T 1/00 300 , G06T 5/30 A , G06T 7/60 200 H , G11B 5/84 C

F-Term (31)：

5B057AA01 , 5B057BA06 , 5B057BA30 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CE12 , 5B057CF01 , 5B057DA12 , 5B057DB02 , 5B057DB08 , 5B057DC08 , 5B057DC09 , 5B057DC13 , 5B057DC19 , 5D112AA05 , 5D112JJ03 , 5D112JJ10 , 5L096AA03 , 5L096AA06 , 5L096BA03 , 5L096DA02 , 5L096EA43 , 5L096FA03 , 5L096FA24 , 5L096FA35 , 5L096FA67 , 5L096GA51 , 5L096HA11 , 5L096MA07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

画像認識方法およびこの方法を用いた画像認識装置ならびに電子部品実装装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-193573 Applicant：ソニー株式会社
画像処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-099954 Applicant：三菱化学株式会社
外観検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-145172 Applicant：松下電工株式会社

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