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J-GLOBAL ID：200903011271925457

ステレオ画像処理方法およびステレオ画像処理装置、並びにステレオ画像処理プログラム

Inventor：
宮▲崎▼ 新一

About 宮▲崎▼ 新一


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (3)： 渡邊 隆 ,  志賀 正武 ,  実広 信哉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003023281
Publication number (International publication number)：2004234423
Application date： Jan. 31, 2003
Publication date： Aug. 19, 2004
Summary：
【課題】ミスマッチングによる計測精度の低下を抑制するとともに、より密な計測結果を得ることができるようにする。【解決手段】基準画像の対応点を求めたい点を基準にして一定領域の基準ウィンドウを設定し、参照画像中には基準ウィンドウと同一の大きさの参照ウィンドウを設定し、参照画像中のエピポーラ線に沿って走査しながら、基準ウィンドウと参照ウィンドウとの差異を評価し、差異の最も小さい参照ウィンドウの位置をステレオ対応点として決定し、基準ウィンドウの位置と、参照ウィンドウの位置の差から、視差を計測し、基準ウィンドウと参照ウィンドウとのパターンの差異の評価値分布のピークの鋭さに基づく第一の信頼度と、上記ピークの乱立状況に基づく第二の信頼度とにより、対応点(視差)の信頼度を計算し、視差の情報とともに視差の信頼度の値を出力する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
第1の撮像装置によって撮像された基準画像と、第2の撮像装置によって撮像された参照画像間でステレオ対応探索を行い、視差を計測するステレオ画像処理方法であって、 前記基準画像中の対応点を求めたい点を注目点とし、前記注目点を基準にして一定領域の基準ウィンドウを設定し、 前記参照画像中には前記基準ウィンドウと同一の大きさの参照ウィンドウを設定し、 前記注目点に対応する前記参照画像中のエピポーラ線に沿って前記参照ウィンドウを走査しながら、前記基準ウィンドウと前記参照ウィンドウとのパターンの差異を評価し、 前記差異の最も小さい参照ウィンドウの位置をステレオ対応点として決定し、 ステレオ対応点決定時の、前記基準ウィンドウの位置と、前記参照ウィンドウの位置の差から、視差を計測し、 前記参照ウィンドウを走査して得られる、前記基準ウィンドウと前記参照ウィンドウとのパターンの差異の評価値分布のピークの鋭さに基づく第1の信頼度と、上記ピークの乱立状況に基づく第2の信頼度とにより、視差の信頼度を計算し、 前記視差の値とともに前記視差の信頼度の値を出力する ことを特徴とするステレオ画像処理方法。
IPC (2)：
G06T7/60 ,  G01B11/00
FI (3)：
G06T7/60 180B ,  G06T7/60 150P ,  G01B11/00 H
F-Term (24)：
2F065AA04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ45 ,  2F112AC06 ,  2F112BA05 ,  2F112FA03 ,  2F112FA19 ,  2F112FA36 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096GA08 ,  5L096HA07 ,  5L096JA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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