光学補償フィルムの欠陥検査方法及び装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：萩野平 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998193064
Publication number (International publication number)：2000028546
Application date： Jul. 08, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：

【要約】【課題】液晶表示装置用の光学補償フィルムの複屈折ムラを起こす欠陥を特定でき、欠陥の発生源に対して適切な処置が可能な、光学補償フィルムの欠陥検査方法及び装置を提供する。【解決手段】連続的に搬送される、光学的に異方性を有するフィルム10の面に投光する手段と、前記フィルムを介した光を受光する受光手段とが設けられ、前記フィルムの欠陥部分の光量が正常部分の光量と異なることを利用して前記欠陥を検出する光学補償フィルムの欠陥検査装置において、前記欠陥部分Bの散乱光L2を検出する散乱光検出手段30と、前記欠陥部分A,Bの透過光L1を検出する透過光検出手段20とが独立に設けられ、前記散乱光L2と前記透過光L1の個々の情報を得ることを特徴とする光学補償フィルムの欠陥検査装置。

Claim (excerpt)：

連続的に搬送される、光学的に異方性を有するフィルムの面に投光し、前記フィルムを介した光を受光することにより、前記フィルムの欠陥部分の光量が正常部分の光量と異なることを利用して前記欠陥を検出する光学補償フィルムの欠陥検査方法において、前記フィルムの欠陥部分における散乱光と、前記フィルムを2枚の偏光子の間に配置したときの前記欠陥部分の透過光とを独立に検出して、前記散乱光に関連した欠陥の情報と前記透過光に関連した欠陥の情報とを得ることを特徴とする光学補償フィルムの欠陥検査方法。

F-Term (16)：

2G051AA41 , 2G051AB01 , 2G051AB02 , 2G051BA11 , 2G051BB03 , 2G051BB07 , 2G051CA03 , 2G051CB02 , 2G051CB05 , 2G051DA06 , 2G051EA08 , 2G051EA11 , 2G051EA14 , 2G051EA16 , 2G051EB01 , 2G051EC05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

透明体検査方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-338242 Applicant：株式会社ヒューテック
連続シート状物体の欠点検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-137704 Applicant：日本板硝子株式会社
フィルム・シート類の透明欠陥検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-314403 Applicant：新日鐵化学株式会社

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