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J-GLOBAL ID：200903012310875167

散乱吸収体の内部情報計測方法及び装置

Inventor：
土屋 裕

About 土屋 裕


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994021400
Publication number (International publication number)：1995049304
Application date： Feb. 18, 1994
Publication date： Feb. 21, 1995
Summary：
【要約】【目的】 高精度で吸収係数などの散乱吸収体の内部情報を計測する。【構成】 散乱や吸収の影響を受けながら散乱吸収体の内部を拡散伝搬した光を散乱吸収体の外部で測定し、その測定値を演算処理して散乱吸収体の内部情報を計測する。このとき、散乱吸収体内部を拡散伝搬する光の振る舞いおよびその結果である信号つまり光検出信号が、散乱吸収体内部の散乱成分や吸収成分などの性質や濃度に依存することを利用して、3種以上の異なる光入射位置-光検出位置間距離で測定した3種以上の検出信号(計測値)を演算処理する。ここで計測される内部情報は、散乱吸収体の吸収係数や輸送散乱係数などの絶対値であり、さらにこれらを演算処理して、特定散乱成分や特定吸収成分の濃度に関する情報などを計測することができる。
Claim (excerpt)：
所定波長の光を散乱吸収体に入射し、3種以上の異なる光入射位置-光検出位置間距離に対応する検出位置で、散乱吸収体の内部を拡散伝搬した前記所定波長の光を検出して3種以上の検出信号を取得し、前記所定波長の光がそれぞれ拡散伝搬して前記検出位置に到達するときの前記散乱吸収体内の拡散伝搬経路における散乱特性および吸収特性と前記検出信号との3つ以上の連立関係に基づいて、前記検出信号を演算処理して散乱吸収体の内部情報を導出する、ことを特徴とする散乱吸収体の内部情報計測方法。
IPC (2)：
G01N 21/27 ,  G01J 1/00
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
  • 特開平1-209342
  • 光断層イメージング装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062303   Applicant：浜松ホトニクス株式会社
  • 生体光計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-063056   Applicant：株式会社日立製作所, 学校法人東海大学
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Cited by examiner (5)
  • 特開平1-209342
  • 光断層イメージング装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062303   Applicant：浜松ホトニクス株式会社
  • 生体光計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-063056   Applicant：株式会社日立製作所, 学校法人東海大学
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