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J-GLOBAL ID:200903012546614097

半導体製造装置用部材

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7): 中村 友之 ,  三好 秀和 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄 ,  鈴木 壯兵衞 ,  高久 浩一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003083817
Publication number (International publication number):2004296553
Application date: Mar. 25, 2003
Publication date: Oct. 21, 2004
Summary:
【課題】半導体製造装置の反応容器内で発生する部材間でのアーキングを抑制する。【解決手段】半導体製造装置用部材の角部を半径0.1mm以上のR面取り加工処理し、かつ表面粗さRa1.6μm以下に研磨加工処理することで、角部における電荷の集中を抑制し、アーキングの発生を防止する。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
半径0.1mm以上のR面取り加工がされ、かつ表面粗さRa1.6μm以下である、少なくとも一以上の角部を有することを特徴とする、半導体製造装置用部材。
IPC (2):
H01L21/205 ,  H01L21/3065
FI (2):
H01L21/205 ,  H01L21/302 101G
F-Term (10):
5F004AA16 ,  5F004BB29 ,  5F045AA08 ,  5F045BB20 ,  5F045DP03 ,  5F045EB02 ,  5F045EF01 ,  5F045EH04 ,  5F045EK08 ,  5F045EM09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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