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J-GLOBAL ID:200903012827285009
農産物の内部品質計測装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
北村 修一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000374448
Publication number (International publication number):2002174594
Application date: Dec. 08, 2000
Publication date: Jun. 21, 2002
Summary:
【要約】【課題】 簡素な装置構成でありながらも、被計測物の大きさの変化にかかわらず検出光を被計測物の中心部に向けて投射させて、計測精度の確保が可能となる農産物の内部品質計測装置を提供する。【解決手段】 球形もしくはそれに類する形状の被計測物Mの径が大なるほどその被計測物の存在予定領域が支持基準位置Kから一側方向J(上向き方向)に伸びる状態で支持され、被計測物Mに検出光Lを投射する投光手段100が、被計測物Mの存在予定領域が支持基準位置Kから伸びる方向Jに直交する方向Hに対して、投射方向の前方側(図の右側)ほど支持基準位置Kに接近する側に傾斜する投射方向に沿って検出光Lを投射し、上記検出光Lが被計測物Mに当たって被計測物Mの内部を透過した透過光が受光手段200にて受光される。
Claim (excerpt):
球形もしくはそれに類する形状の被計測物を、その被計測物の径が大なるほどその被計測物の存在予定領域が支持基準位置から一側方向に伸びる状態で支持する支持手段が設けられ、前記存在予定領域を挟んで両側に、前記被計測物に検出光を投射する投光手段と、前記検出光が前記被計測物を透過した透過光を受光する受光手段とが設けられ、前記受光手段の受光情報に基づいて前記被計測物の内部品質を求める品質判別手段が設けられている農産物の内部品質計測装置であって、前記投光手段が、前記存在予定領域が前記支持基準位置から伸びる方向に直交する方向に対して、投射方向の前方側ほど前記支持基準位置に接近する側に傾斜する投射方向に沿って前記検出光を投射するように構成されている農産物の内部品質計測装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/35 Z
, G01N 21/85 A
F-Term (33):
2G051AA05
, 2G051AB20
, 2G051BA06
, 2G051BA20
, 2G051BB15
, 2G051BC05
, 2G051CA03
, 2G051CB02
, 2G051CD03
, 2G051DA01
, 2G051DA06
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G059AA01
, 2G059BB11
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059FF08
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ23
, 2G059KK01
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059MM10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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青果物品質測定方法及び青果物品質測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-048857
Applicant:財団法人雑賀技術研究所
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分光測定方法とそれを用いた分光測定器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-086292
Applicant:財団法人雑賀技術研究所
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対象物内部品質測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-125547
Applicant:三井金属鉱業株式会社
-
非破壊糖度測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-351466
Applicant:住友金属鉱山株式会社
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