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J-GLOBAL ID:200903013685589605

薄膜トランジスタ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 敬
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995327473
Publication number (International publication number):1997166788
Application date: Dec. 15, 1995
Publication date: Jun. 24, 1997
Summary:
【要約】【課題】 LDD構造のダブルゲートpoly-SiTFTにおいて、マスクずれによる低濃度領域の消失に起因するリーク電流を抑え、電圧保持率を上昇し、コントラスト比を向上する。【解決手段】 LDD構造のダブルゲートTFTであって、2つのチャンネル領域11Na,11Nbの電流方向を逆にしている。レジストが左右方向にずれ動いた場合、LD領域11Lc,11LfあるいはLD領域11Ld,11Leのいずれかが有効となるので、少なくともどちらか一方のチャンネル領域でリーク電流が抑えられる。
Claim (excerpt):
絶縁基板上に島状に形成された多結晶半導体層と、絶縁層を挟んで前記多結晶半導体層に重畳配置された第1及び第2のゲート電極と、前記多結晶半導体層中の前記第1のゲート電極との重畳領域及び前記第2のゲート電極との重畳領域に各々形成された第1のチャンネル領域及び第2のチャンネル領域と、前記第1のチャンネル領域と第2のチャンネル領域の間の前記多結晶半導体層中に不純物が高濃度にドーピングされた高濃度領域からなる共通領域と、前記第1のチャンネル領域を挟んで前記共通領域に対向する前記多結晶半導体層中に前記不純物が高濃度にドーピングされた高濃度領域からなるドレイン領域と、前記第2のチャンネル領域を挟んで前記共通領域に対向する前記多結晶半導体層中に前記不純物が高濃度にドーピングされた高濃度領域からなるソース領域と、前記第1のチャンネル領域と前記ドレイン領域の間、前記第1のチャンネル領域と前記共通領域の間、前記第2のチャンネル領域と前記共通領域の間、及び、前記第2のチャンネル領域と前記ソース領域の間に前記不純物が低濃度にドーピングされた低濃度領域が介在されてなる薄膜トランジスタにおいて、前記第1のチャンネル領域の電流方向と前記第2のチャンネル領域の電流方向が異なっていることを特徴とする薄膜トランジスタ。
IPC (2):
G02F 1/136 500 ,  H01L 29/786
FI (4):
G02F 1/136 500 ,  H01L 29/78 617 N ,  H01L 29/78 618 F ,  H01L 29/78 618 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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