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J-GLOBAL ID：200903013775140887

三次元形状計測方法及びその装置

Inventor： 高田 雄二 ,  松尾 英明 ,  今川 和幸 ,  大橋 健
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 平野 一幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999342026
Publication number (International publication number)：2001159510
Application date： Dec. 01, 1999
Publication date： Jun. 12, 2001
Summary：

【要約】【課題】 位相シフト法による周期不定性の悪影響を排除する。【解決手段】 正弦波状の周期関数に従う光強度パターンを、位相をずらしながら対象に照射し、これを撮像した撮像結果に基づいて、対象の三次元形状を計測する。互いに波長が異なる周期関数に従う複数の光強度パターンを、それぞれの光強度パターンが互いに干渉しないように対象に投射する。これら各周期関数の波長の最小公倍数が、撮像領域中で周期不定性を持つ範囲よりも大きく設定されている。

Claim (excerpt)：

周期関数に従う光強度パターンを、位相をずらしながら対象に照射し、これを撮像した撮像結果に基づいて、対象の三次元形状を計測する三次元形状計測方法であって、互いに波長が異なる周期関数に従う複数の光強度パターンを、それぞれの光強度パターンが互いに干渉しないように対象に投射すると共に、これら各周期関数の波長の最小公倍数が、一定領域中で周期不定性を持つ範囲よりも大きく設定されていることを特徴とする三次元形状計測方法。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00

FI (2)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K

F-Term (17)：

2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG23 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065LL21 ,  2F065LL67 ,  2F065NN05 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 物体の三次元形状計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-192452   Applicant：富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
• 3次元計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-221186   Applicant：シャープ株式会社
• 3次元形状測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-050566   Applicant：株式会社オプトン
• 形状計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-128889   Applicant：佐藤幸男