Pat

J-GLOBAL ID：200903014075248969

プローブ及び近接場顕微鏡

Inventor： 関口 亮太
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 加藤 一男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006073614
Publication number (International publication number)：2007248316
Application date： Mar. 17, 2006
Publication date： Sep. 27, 2007
Summary：

【課題】比較的簡単な構成を有するプローブ及び近接場顕微鏡を提供することである。【解決手段】プローブは、一端に開口102を備えた管状の導電体101を有する。管状の導電体101の外側の部分と内側の部分の一方において、開口102から離れた位置に電磁波を送信するための電磁波送信手段103が備えられ、他方において、開口102から離れた位置からの電磁波を受信するための電磁波受信手段104が備えられる。開口102の寸法は電磁波の波長以下であって、管状の導電体101の外側の部分と内側の部分とで夫々送信、受信される電磁波は開口102を通じて結合する。観察したい検体105を開口102に対して配するときの電磁波の開口102を通じた結合の変化に基づいて検体105の情報を取得する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

一端に開口を備えた管状の導電体を有し、 前記管状の導電体の外側の部分と内側の部分の一方において、前記開口から離れた位置に電磁波を送信するための電磁波送信手段を備え、他方において、前記開口から離れた位置からの電磁波を受信するための電磁波受信手段を備え、 前記開口の寸法は電磁波の波長以下であって、 前記管状の導電体の外側の部分と内側の部分とで夫々送信、受信される電磁波を、前記開口を通じて結合する様に構成され、 観察したい検体を前記開口に対して配するときの前記電磁波の前記開口を通じた結合の変化に基づいて前記検体の情報を取得することを特徴とするプローブ。

IPC (2)：

G01N 13/14 ,  G01N 13/10

FI (3)：

G01N13/14 B ,  G01N13/14 A ,  G01N13/10 H

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 広帯域高周波誘電率測定方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-355062   Applicant：株式会社エー・イー・ティー・ジャパン
• 材料の複素透過率の局部測定のための装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-283433   Applicant：ネオセラインコーポレーテッド