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J-GLOBAL ID：200903014324554382

クロマトグラフィー質量分析方法、及びクロマトグラフ質量分析装置

Inventor：
山下 博教

About 山下 博教


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009218474
Publication number (International publication number)：2009294231
Application date： Sep. 24, 2009
Publication date： Dec. 17, 2009
Summary：
【課題】質量分析の結果を比較し、異なる試料に含まれる個々の成分を対応付け、その結果を確認し、変動成分を抽出する。【解決手段】複数成分が含まれている試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量電荷比に対応するイオン強度について、少なくとも2つの試料を比較する。そこで、質量スペクトルとして観測したイオン群において、それぞれの質量電荷比の一致と、イオン強度が指定した変動内に収まること等を以って、同じ成分が観測されているであろう保持時間として対応付ける。【選択図】図7
Claim (excerpt)：
第1の試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量スペクトルの関係を表すデータをもとに、着目する成分のマスクロマトグラムあるいは各質量スペクトルにおけるイオン強度の最大値を保持時間に対してプロットしたベースピークイオンクロマトグラムからなる第1のクロマトグラムを作成する工程と、 第2の試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量スペクトルの関係を表す第2のデータをもとに、前記着目する成分のマスクロマトグラムあるいは各質量スペクトルにおけるイオン強度の最大値を保持時間に対してプロットしたベースピークイオンクロマトグラムからなる第2のクロマトグラムを作成する工程と、 前記第1のクロマトグラムのピークの質量スペクトルと前記第2のクロマトグラムのピークの質量スペクトルを比較して、前記第1のクロマトグラムのピークと前記第2のクロマトグラムのピークとの対応付けを行う工程と、 前記工程で対応付けられた第1と第2のクロマトグラムのピークの保持時間が同じになるように前記第2の試料の質量スペクトルの保持時間を補正する工程と を有することを特徴とするクロマトグラフィー質量分析方法。
IPC (1)：
G01N 27/62
FI (3)：
G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  G01N27/62 Y
F-Term (7)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041HA01 ,  2G041MA01 ,  2G041MA02 ,  2G041MA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 質量分析システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-152788   Applicant：日本電子株式会社
  • 質量分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-097996   Applicant：株式会社島津製作所
  • クロマトグラム処理装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-342944   Applicant：東ソー株式会社
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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