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J-GLOBAL ID:200903014671951677

発光試験測定用のアッセイプレート、リーダシステム及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 浅村 皓 ,  浅村 肇 ,  安藤 克則 ,  池田 幸弘
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003508145
Publication number (International publication number):2004534226
Application date: Jun. 28, 2002
Publication date: Nov. 11, 2004
Summary:
一体型電極を有するアッセイモジュールを使用して、アッセイモジュールを受け取り、アッセイモジュールのウエル又はアッセイ領域中で発光、好ましくは電極誘起発光を誘起し、誘起された発光を測定するように適合されたリーダ機器によって発光試験測定を行う。
Claim (excerpt):
プレート底部を備える発光アッセイを行うためのマルチウエルプレートであって、前記プレート底部が、その上にパターン化した一緒にアドレス可能な各電極からなる独立にアドレス可能な各セクタを含む、マルチウエルプレート。
IPC (1):
G01N21/76
FI (1):
G01N21/76
F-Term (4):
2G054BB06 ,  2G054EA01 ,  2G054GA09 ,  2G054GE07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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