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J-GLOBAL ID:200903015279810824

検査装置、検査方法、検査プログラムおよび検査システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 藤田 考晴 ,  上田 邦生
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006096947
Publication number (International publication number):2007271434
Application date: Mar. 31, 2006
Publication date: Oct. 18, 2007
Summary:
【課題】外乱が現れているX線撮影画像においても、被測定物に生じている亀裂の位置やその深さを精度良く検出することを目的とする。【解決手段】本発明は、被測定物のX線撮影画像から注目部位を抽出する注目部位抽出部11と、注目部位の輝度およびその近傍領域の輝度に基づいて、注目部位の特徴量を決定する特徴量決定部12と、特徴量に応じて、注目部位の亀裂深さを決定する亀裂深さ決定部13とを具備する検査装置を提供する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
被測定物のX線撮影画像から注目部位を抽出する注目部位抽出手段と、 前記注目部位の輝度およびその近傍領域の輝度に基づいて、注目部位の特徴量を決定する特徴量決定手段と、 前記特徴量に応じて、前記注目部位の亀裂深さを決定する亀裂深さ決定手段と を具備する検査装置。
IPC (2):
G01B 15/02 ,  G01N 23/04
FI (2):
G01B15/02 H ,  G01N23/04
F-Term (30):
2F067AA03 ,  2F067AA24 ,  2F067AA27 ,  2F067BB06 ,  2F067CC00 ,  2F067DD01 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL18 ,  2F067RR12 ,  2F067RR33 ,  2F067RR35 ,  2F067RR36 ,  2F067RR42 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001FA08 ,  2G001GA04 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001HA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001MA06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
  • 配管の減肉深さ推定方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-295159   Applicant:出光エンジニアリング株式会社, 日本シーレーク株式会社
  • 特開昭58-144732
  • 樹脂成形体の空洞検査方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-072076   Applicant:日立金属株式会社, 小畑秀文, 清水昭伸
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