高分子化合物の不良品分離方法

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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998337787
Publication number (International publication number)：2000159897
Application date： Nov. 27, 1998
Publication date： Jun. 13, 2000
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】製造された製品の性質を定期的に迅速に判定して、不良品の発生量をきわめて少なくすることができる分離方法を提供する。【解決手段】連続的に高分子化合物を製造するプロセスにおいて、高分子化合物の性質を、400〜2500nmの近赤外線領域における1ないし複数個の波長領域で近赤外線の吸光度を測定して得られる測定データを微分処理を行った上で、あらかじめ別の手段で測定分析した重合体の諸性質に対して相関のある特定波長領域を多重線形回帰法分析または部分最小二乗法により求められた相関関係より得られたキャリブレーションカーブから、高分子化合物の目的とする品質特性値を判定する高分子化合物の不良品分離方法。

Claim (excerpt)：

少なくとも1基の不良品を貯蔵するサイロを含む複数基の製品貯蔵サイロを有する、連続的に高分子化合物を製造するプロセスにおいて、高分子化合物の性質を、400〜2500nmの近赤外線領域における1ないし複数個の波長領域で近赤外線の吸光度を測定して得られる測定データを微分処理を行った上で、あらかじめ別の手段で測定分析した重合体の諸性質(例えば分子量、残留モノマー量、重合度、結晶化度、重合体の密度、粘度、アイソタクチシチー指数、メルトインデックス、溶融流量、分子量、分子量分布、メチル基含有量、剛性、降伏応力、耐応力亀裂性、衝撃強さ、艶、透明度等)に対して相関のある特定波長領域を多重線形回帰法分析または部分最小二乗法により求められた相関関係より得られたキャリブレーションカーブから、高分子化合物の目的とする品質特性値を判定して、その判定結果から得られた品質特性値と目標値との差を演算処理して、差があらかじめ設定した許容値内であるときには正規品を貯蔵するサイロに送られ、許容値を超えたときには自動的に不良品を貯蔵するサイロに送られるような制御機能を有することを特徴とする高分子化合物の不良品分離方法。

IPC (4)：

C08G 85/00 , C08F 2/01 , G01N 21/35 , G01N 33/00

FI (4)：

C08G 85/00 , C08F 2/00 H , G01N 21/35 Z , G01N 33/00 A

F-Term (20)：

2G059AA01 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059CC12 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059KK10 , 2G059MM01 , 2G059MM05 , 2G059MM12 , 4J011DB30 , 4J011DB33 , 4J031CA06 , 4J031CE08 , 4J031CF03 , 4J031CG17 , 4J031CG46 , 4J031CG47

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

試料の物理的化学的性質推定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-078080 Applicant：株式会社ニレコ
近赤外線による化学組成やそれに由来する性質の検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-214620 Applicant：旭化成工業株式会社
水中カット造粒装置の運転方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-215772 Applicant：株式会社日本製鋼所

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