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J-GLOBAL ID：200903015898570510

光干渉断層像観測装置

Inventor：
丹野 直弘

About 丹野 直弘


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団

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丹野 直弘

About 丹野 直弘


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000040883
Publication number (International publication number)：2001228080
Application date： Feb. 18, 2000
Publication date： Aug. 24, 2001
Summary：
【要約】【課題】 生体などの深部断層の静的あるいは動的構造を検知し多次元画像化して観測可能とする光干渉断層像観測装置を提供する。【解決手段】 回転体4の円周部に一つの頂角を90度にしたリトロリフレクタープリズム1を、該頂角の対角面を円周の接線におよそ直交するように設け、該対角面に光束を入射させる時、該入射方向と平行に該光束を反射する該プリズムの特性を利用し、該回転体4の回転とともに反射点を一定方向に走査することができ、光の進行方向に回転する場合は遅延反射する光束を、回転が反対の場合は漸進反射する光束を回転に応じて周期的に発生する回転プリズム装置を具備する。
Claim (excerpt)：
回転体の円周部に一つの頂角を90度にしたリトロリフレクタープリズムを、前記リトロリフレクタープリズムの頂角の対角面を円周の接線におよそ直交するように設け、前記対角面に光束を入射させる時、該入射方向と平行に前記光束を反射する該プリズムの特性を利用し、前記回転体の回転とともに反射点を一定方向に走査することができ、光の進行方向に回転する場合は遅延反射する光束を、回転が反対の場合は漸進反射する光束を回転に応じて周期的に発生する回転プリズム装置を具備したことを特徴とする光干渉断層像観測装置。
IPC (3)：
G01N 21/17 620 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/45
FI (3)：
G01N 21/17 620 ,  G01N 21/45 A ,  G01B 11/24 B
F-Term (40)：
2F065AA51 ,  2F065AA60 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF51 ,  2F065GG07 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL13 ,  2F065LL20 ,  2F065LL46 ,  2F065LL62 ,  2F065LL65 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC20 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF08 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL03 ,  2G059NN01 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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